Luận án TS: Nghiên cứu và Chế tạo Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe bởi Phạm Anh Tuân
Nghiên cứu chuyên sâu về pin mặt trời CZTSSe và CIGSSe trong luận án tiến sĩ, phân tích cấu trúc, hiệu suất và tiềm năng ứng dụng.
Luan An
Luận án tiến sĩ
Năm xuất bản
Số trang
122
Thời gian đọc
19 phút
Lượt xem
0
Lượt tải
0
Phí lưu trữ
40 Point
Tổng quan nhanh
- Chủ đề:
- 1. Tổng quan công nghệ pin mặt trời màng mỏng CZTSSe
- Số trang:
- 122 trang
- Trường:
- Đại học Bách khoa Hà Nội
- Chuyên ngành:
- Vật liệu điện tử
- Tác giả:
- Phạm Anh Tuân
- Năm:
- 2017
Tóm tắt nội dung luận án
I. Tổng quan công nghệ pin mặt trời màng mỏng CZTSSe
Pin mặt trời màng mỏng CZTSSe đại diện cho bước tiến lớn trong công nghệ năng lượng tái tạo. Cấu trúc pin quang điện gồm nhiều lớp chức năng xếp chồng lên nhau. Đế thủy tinh soda-lime đóng vai trò nền đỡ cơ học vững chắc. Lớp điện cực dưới Molybdenum thu nhận lỗ trống quang sinh. Lớp hấp thụ ánh sáng bán dẫn chuyển đổi photon thành cặp điện tử - lỗ trống. Lớp đệm n-type CdS tạo tiếp xúc dị thể p-n chất lượng cao. Lớp điện cực cửa sổ ZnO/ITO hoặc AgNW/ZnO dẫn điện trong suốt và truyền ánh sáng tới vùng quang hoạt. Công nghệ màng mỏng giúp tiết kiệm tối đa khối lượng nguyên liệu chế tạo. Độ dày toàn bộ pin chỉ vài micromet. Pin mặt trời màng mỏng CZTSSe và pin quang điện CIGSSe sở hữu hệ số hấp thụ quang học vượt trội trên 10^4 cm^-1. Khả năng hấp thụ mạnh dải ánh sáng khả kiến giúp giảm độ dày lớp hoạt tính. Thiết bị duy trì độ linh hoạt cao và tích hợp dễ dàng trên nhiều bề mặt cơ khí khác nhau. Nghiên cứu tập trung giải quyết độ ổn định và giảm thiểu chi phí thương mại hóa.
1.1. Cấu trúc lớp tiếp xúc dị thể p n trong pin màng mỏng
Cấu trúc dị thể p-n đóng vai trò trung tâm trong quá trình tách điện tích. Lớp bán dẫn p-type CZTSSe hoặc CIGSSe tiếp xúc trực tiếp với lớp đệm n-type CdS. Tiếp xúc dị thể tạo ra điện trường nội tại mạnh mẽ tại vùng điện tích không gian. Photon có năng lượng lớn hơn độ rộng vùng cấm kích thích các điện tử từ vùng hóa trị lên vùng dẫn. Cặp điện tử - lỗ trống quang sinh nhanh chóng phân tách dưới tác dụng của điện trường. Điện tử di chuyển về phía điện cực cửa sổ n-type. Lỗ trống chuyển dịch ngược lại về phía điện cực dưới Mo. Quá trình tái hợp điện tích tại mặt phân giới được hạn chế tối đa nhờ độ tương thích mạng tinh thể. Lớp đệm CdS thường được lắng đọng bằng phương pháp lắng đọng dung dịch hóa học CBD. Độ dày lớp đệm duy trì trong khoảng 50 nm nhằm tối ưu hóa độ truyền qua quang học. Cấu trúc này đảm bảo dòng quang điện thu gom đạt mức tối đa.
1.2. Phân loại pin mặt trời đơn lớp và đa lớp hiện đại
Pin mặt trời đơn lớp sử dụng một mối nối p-n duy nhất để hấp thụ ánh sáng. Cấu trúc đơn lớp bị giới hạn hiệu suất quang điện lý thuyết theo định luật Shockley-Queisser. Ngược lại, pin mặt trời đa lớp ghép nối nhiều vùng cấm quang học khác nhau. Thiết kế đa tầng tối ưu hóa việc hấp thụ toàn bộ phổ bức xạ mặt trời. Các photon năng lượng cao bị hấp thụ ở lớp trên cùng. Photon năng lượng thấp hơn đi xuyên qua và bị hấp thụ tại lớp dưới. Pin màng mỏng CZTSSe và CIGSSe có thể tích hợp vào cấu trúc tandem nhiều tầng. Điều này giúp vượt qua giới hạn hiệu suất của pin đơn lớp truyền thống. Việc xếp chồng các lớp bán dẫn đòi hỏi kiểm soát nghiêm ngặt điện trở tiếp xúc và dòng điện nối tiếp. Nghiên cứu cấu trúc đa lớp mở ra tiềm năng thương mại lớn cho ngành quang điện màng mỏng tương lai.
II. Vật liệu Kesterite Cu2ZnSn S Se 4 và màng CIGSSe
Vật liệu Kesterite Cu2ZnSn(S,Se)4 phát triển như một giải pháp thay thế hoàn hảo cho Chalcopyrite. Vật liệu Chalcopyrite Cu(In,Ga)(S,Se)2 chứa các nguyên tố đắt đỏ và khan hiếm như Indium và Gallium. Ngoài ra, Tellurium và Cadmium trong một số pin màng mỏng tiềm ẩn độc tính môi trường. Ngược lại, Kesterite sử dụng Kẽm (Zn) và Thiếc (Sn) dồi dào trong vỏ Trái Đất. Giá thành nguyên liệu Kesterite thấp hơn nhiều lần so với CIGS truyền thống. Vật liệu Kesterite sở hữu cấu trúc tinh thể tứ giác đặc trưng. Hệ số hấp thụ quang học của CZTSSe đạt mức trên 10^4 cm^-1 tại vùng ánh sáng khả kiến. Độ bền nhiệt và độ ổn định pha của Kesterite rất thích hợp cho sản xuất quy mô công nghiệp. Việc kiểm soát tỉ lệ hợp thức Cu/(Zn+Sn) và Zn/Sn giữ vai trò quyết định cấu trúc pha. Pin quang điện CIGSSe và CZTSSe đang dẫn đầu xu hướng nghiên cứu quang điện thế hệ mới.
2.1. Đặc trưng tinh thể của vật liệu Kesterite và Chalcopyrite
Cấu trúc tinh thể quyết định trực tiếp tính chất quang điện của màng hấp thụ. Vật liệu Chalcopyrite Cu(In,Ga)(S,Se)2 kết tinh trong hệ tinh thể tứ giác không tâm đối xứng. Vật liệu Kesterite Cu2ZnSn(S,Se)4 có cấu trúc gần tương đồng với trật tự cation phức tạp hơn. Mạng tinh thể Kesterite dễ xuất hiện các khuyết tật đảo vị do bán kính ion Cu+ và Zn2+ tương đương nhau. Sự mất trật tự cation dẫn đến việc hình thành các pha phụ có hại như ZnS, Cu2SnS3 hoặc SnS2. Giản đồ nhiễu xạ tia X (XRD) và phổ tán xạ Raman giúp nhận diện chính xác các pha tinh thể. Quá trình ủ nhiệt và kiểm soát tỷ lệ thành phần hóa học ngăn chặn sự phân tách pha. Tinh thể màng chất lượng cao yêu cầu kích thước hạt lớn và mật độ biên hạt thấp. Màng có độ kết tinh cao giúp hạn chế bẫy hạt tải và tăng tốc độ dịch chuyển của dòng điện tử.
2.2. Điều chỉnh độ rộng vùng cấm của màng bán dẫn CZTSSe
Điều chỉnh độ rộng vùng cấm (Bandgap engineering) là kỹ thuật then chốt để tối ưu hóa khả năng hấp thụ quang học. Độ rộng vùng cấm của CZTS nguyên chất đạt khoảng 1.5 eV. Khi thay thế dần Lưu huỳnh bằng Selen, vùng cấm CZTSe giảm xuống mức 1.0 eV. Tương tự, độ rộng vùng cấm của CIGSSe thay đổi liên tục từ 1.0 eV đến 1.7 eV tùy thuộc vào tỷ lệ Ga/(In+Ga) và S/(S+Se). Việc tạo gradient vùng cấm theo phương thẳng đứng tạo ra điện trường giả. Điện trường này gia tốc dòng hạt tải thiểu số về phía tiếp xúc dị thể. Đồng thời, kỹ thuật giúp giảm thiểu hiện tượng tái hợp bề mặt tại điện cực dưới. Độ rộng vùng cấm lý tưởng cho pin mặt trời đơn lớp nằm trong khoảng 1.1 eV đến 1.4 eV. Kỹ thuật điều chỉnh vùng cấm mang lại khả năng tùy biến phổ hấp thụ tối ưu cho từng điều kiện chiếu sáng.
III. Kỹ thuật phún xạ và bốc bay nhiệt chân không màng
Phương pháp phún xạ và bốc bay nhiệt chân không là các kỹ thuật chế tạo màng mỏng chuẩn xác bậc nhất. Quá trình lắng đọng trong môi trường chân không cao loại bỏ hoàn toàn tạp chất khí. Kỹ thuật phún xạ Magnetron sử dụng plasma khí Argon để bắn phá bia vật liệu. Các nguyên tử bia bị đánh bật và lắng đọng đồng đều lên bề mặt đế. Phương pháp này cho phép kiểm soát chính xác độ dày và hình thái bề mặt màng. Lớp điện cực dưới Molybdenum thường được phún xạ theo cấu trúc đa lớp. Thiết kế màng Mo nhiều lớp cân bằng giữa độ bám dính cơ học và độ dẫn điện bề mặt. Trong khi đó, kỹ thuật đồng bốc bay nhiệt chân không cung cấp khả năng kiểm soát tỷ lệ bốc bay từng nguyên tố Cu, In, Ga, Zn, Sn. Màng bán dẫn tạo ra có độ tinh khiết cao và cấu trúc đồng nhất tuyệt đối.
3.1. Chế tạo lớp điện cực dưới Molybdenum bằng phún xạ Magnetron
Lớp điện cực dưới Molybdenum (Mo) giữ vai trò thu nhận lỗ trống và làm nền phát triển tinh thể. Chế tạo màng Mo bằng phún xạ Magnetron đòi hỏi tối ưu hóa áp suất khí Ar. Áp suất phún xạ cao tạo ra màng có ứng suất nén thấp và độ bám dính tuyệt vời với đế thủy tinh. Tuy nhiên, màng lại có điện trở suất cao. Áp suất phún xạ thấp tạo ra màng có điện trở thấp nhưng độ bám dính giảm. Giải pháp hiệu quả là chế tạo màng Mo hai lớp hoặc ba lớp. Lớp đệm mỏng 100 nm được phún xạ ở áp suất cao để bám dính chắc vào đế. Lớp Mo chính dày bên trên được phún xạ ở áp suất thấp để dẫn điện tối ưu. Cấu trúc màng Mo đa lớp vừa đảm bảo độ bền cơ học vừa duy trì điện trở tấm dưới 0.5 Ohm/sq.
3.2. Phương pháp lắng đọng pha lỏng Sol gel và in màng mỏng
Phương pháp lắng đọng pha lỏng Sol-gel mang lại giải pháp chế tạo màng mỏng chi phí thấp. Quy trình không yêu cầu hệ thống hút chân không đắt đỏ. Các tiền chất muối kim loại của Cu, Zn, Sn được hòa tan trong dung môi hữu cơ thích hợp. Dung dịch sau đó được phủ quay hoặc in gạt trực tiếp lên bề mặt đế Mo. Sau khi sấy khô để loại bỏ dung môi, màng tiền chất trải qua quá trình nhiệt phân tạo màng oxit hoặc sunfua kim loại. Phương pháp lắng đọng pha lỏng Sol-gel cho phép pha tạp đồng đều các nguyên tố vi lượng ở cấp độ phân tử. Việc phối trộn tỉ lệ nguyên liệu diễn ra dễ dàng và linh hoạt. Tuy nhiên, màng sol-gel đòi hỏi kiểm soát chặt chẽ quá trình tạo mầm để tránh rỗ xốp và nứt nẻ bề mặt.
IV. Quá trình Selen hóa và Lưu huỳnh hóa màng hấp thụ
Quá trình Selen hóa và Lưu huỳnh hóa (Selenization/Sulfurization) là bước quyết định để hình thành pha tinh thể mong muốn. Sau khi lắng đọng màng tiền chất kim loại hoặc oxit, màng được đưa vào lò nhiệt luyện trong môi trường chứa hơi Selen hoặc khí H2S/H2Se. Nhiệt độ xử lý thường duy trì trong khoảng 500°C đến 600°C. Ở nhiệt độ cao, các nguyên tử Se và S khuếch tán sâu vào cấu trúc màng kim loại. Phản ứng hóa học diễn ra mãnh liệt giúp chuyển hóa hoàn toàn tiền chất thành pha bán dẫn Kesterite hoặc Chalcopyrite. Quá trình này thúc đẩy sự tái kết tinh và tăng trưởng kích thước hạt tinh thể lên hàng micromet. Kích thước hạt lớn làm giảm đáng kể diện tích biên hạt. Nhờ đó, dòng quang điện ít bị tán xạ và thất thoát trong quá trình dẫn truyền.
4.1. Cơ chế phản ứng chuyển pha trong quá trình Selen hóa
Cơ chế Selen hóa diễn ra qua nhiều giai đoạn phản ứng hóa học liên tiếp. Ban đầu, hơi Selen phản ứng với Đồng và Kẽm để tạo thành các pha trung gian selenua kim loại như CuSe và ZnSe. Khi nhiệt độ vượt quá 450°C, các pha trung gian tương tác với Thiếc selenua để tạo thành pha tinh thể Cu2ZnSnSe4 duy nhất. Đồng thời, một lớp mỏng MoSe2 được hình thành tự nhiên tại mặt tiếp xúc giữa màng hấp thụ và điện cực Mo. Lớp MoSe2 mỏng có định hướng tinh thể song song giúp tạo tiếp xúc Ohm thuận lợi. Ngược lại, lớp MoSe2 quá dày sẽ làm tăng mạnh điện trở nối tiếp Rs. Việc kiểm soát tốc độ gia nhiệt và áp suất riêng phần của hơi Se đảm bảo màng đồng nhất và không bị bong tróc khỏi đế.
4.2. Ảnh hưởng của quá trình Lưu huỳnh hóa đến tính chất quang điện
Quá trình Lưu huỳnh hóa sau bước Selen hóa mang lại hiệu quả cải thiện tiếp xúc bề mặt. Việc bổ sung Lưu huỳnh vào lớp bề mặt giúp mở rộng độ rộng vùng cấm tại vùng tiếp xúc dị thể. Sự chênh lệch vùng cấm tạo ra hàng rào thế năng ngăn chặn điện tử quay trở lại tái hợp. Ngoài ra, Lưu huỳnh hóa giúp thụ động hóa các liên kết lơ lửng tại biên hạt tinh thể. Điện áp hở mạch Voc của thiết bị tăng lên rõ rệt nhờ giảm thiểu mật độ bẫy năng lượng sâu. Thời gian phản ứng và nồng độ khí S cần được hiệu chỉnh chuẩn xác. Quá trình xử lý nhiệt tối ưu tạo ra màng hấp thụ có bề mặt phẳng mịn, sẵn sàng cho công đoạn phủ lớp đệm CdS kế tiếp.
V. Tối ưu hiệu suất chuyển hóa quang năng PCE cho pin
Hiệu suất chuyển hóa quang năng (PCE) là chỉ số cốt lõi đánh giá chất lượng pin quang điện. PCE phụ thuộc trực tiếp vào điện áp hở mạch (Voc), mật độ dòng điện ngắn mạch (Jsc) và hệ số điền đầy (FF). Khuyết tật mạng tinh thể và tái hợp điện tích là nguyên nhân chính làm suy giảm PCE của pin CZTSSe. Sự hiện diện của các tâm tái hợp sâu tại biên hạt và vùng tiếp xúc dị thể làm tiêu hao hạt tải quang sinh. Tối ưu hóa quá trình chế tạo giúp giảm điện trở nối tiếp (Rs) và gia tăng điện trở shunt (Rsh). Nghiên cứu thực nghiệm liên tục nâng cao độ hoàn thiện cấu trúc lớp để đưa pin màng mỏng tiến gần hơn đến giới hạn lý thuyết. Việc kiểm soát chất lượng màng từ cấp độ nguyên tử mở ra triển vọng ứng dụng thực tế to lớn.
5.1. Khống chế khuyết tật mạng tinh thể và tái hợp điện tích
Khuyết tật mạng tinh thể trong màng CZTSSe chủ yếu xuất phát từ hiện tượng đảo vị cation Cu_Zn và Zn_Cu. Năng lượng hình thành khuyết tật này rất thấp, tạo ra mật độ bẫy điện tích cao trong vùng cấm. Các bẫy điện tích thúc đẩy quá trình tái hợp Shockley-Read-Hall, làm sụt giảm nghiêm trọng điện áp Voc. Để khắc phục, kỹ thuật pha tạp kim loại kiềm như Natri (Na) và Kali (K) được áp dụng rộng rãi. Natri khuếch tán từ đế thủy tinh soda-lime vào màng hấp thụ giúp thụ động hóa biên hạt. Việc kiểm soát thành phần nghèo Cu và giàu Zn cũng hạn chế hình thành các pha dẫn điện thứ cấp Cu2-xS. Kiểm soát khuyết tật mạng giúp kéo dài thời gian sống của hạt tải thiểu số và nâng cao độ linh động điện tích.
5.2. Ứng dụng điện cực cửa sổ AgNW ZnO và ALD tối ưu hóa dẫn truyền
Lớp điện cực cửa sổ đóng vai trò quyết định đến độ truyền qua quang học và khả năng thu gom dòng điện. Công nghệ lắng đọng lớp nguyên tử ALD được ứng dụng để tạo màng mỏng ZnO chất lượng vượt trội. Màng ZnO lắng đọng bằng ALD có độ phủ tuyệt hảo, đồng đều và không chứa khuyết tật lỗ kim. Sự kết hợp giữa dây nano bạc (AgNW) và lớp phủ mỏng ZnO tạo ra cấu trúc điện cực dẫn điện trong suốt hiệu năng cao. Mạng lưới AgNW dẫn điện siêu nhanh mà không cản trở ánh sáng đi vào lớp hấp thụ. Cấu trúc điện cực cửa sổ AgNW/ZnO làm giảm mạnh điện trở bề mặt và cải thiện hệ số điền đầy FF. Nhờ đó, hiệu suất chuyển hóa quang năng (PCE) của pin mặt trời đạt mức tối ưu và duy trì độ bền quang hóa ổn định.
Mục lục chi tiết luận án
Tải xuống file đầy đủ để xem toàn bộ nội dung
Tải đầy đủ (122 trang)Nội dung chính
Tổng quan về luận án
Năng lượng tái tạo, đặc biệt là quang điện mặt trời (Photovoltaics - PV), giữ vị trí trung tâm trong chiến lược chuyển dịch năng lượng toàn cầu. Theo kịch bản Blue Map của Cơ quan Năng lượng Quốc tế (IEA), điện mặt trời được dự báo sẽ đóng góp từ 20% đến 25% tổng sản lượng điện năng toàn cầu vào năm 2050. Tại Việt Nam, Quyết định số 2058/QĐ-TTg của Thủ tướng Chính phủ về Chiến lược phát triển năng lượng tái tạo đã đặt mục tiêu nâng tỷ trọng điện mặt trời từ mức không đáng kể lên 0,5% vào năm 2020, 6% vào năm 2030 và đạt 20% vào năm 2050 (tương đương 210 tỷ kWh điện thương phẩm). Thách thức cốt lõi của ngành công nghiệp quang điện là hạ giá thành sản xuất ($LCOE$) thông qua việc tối ưu hóa vật liệu, giảm phụ thuộc vào các nguyên tố quý hiếm/độc hại và đơn giản hóa quy trình chế tạo.
Luận án tiến sĩ khoa học vật liệu (Chuyên ngành Vật liệu điện tử, Mã số: 62440123) của Nghiên cứu sinh Phạm Anh Tuân, dưới sự hướng dẫn của TS. Nguyễn Duy Cường và TS. Nguyễn Việt Hưng tại Viện Tiên tiến Khoa học và Công nghệ (AIST) – Trường Đại học Bách Khoa Hà Nội, đã thực hiện một bước tiến tiên phong: "Nghiên cứu và chế tạo Pin mặt trời Cu(Zn,Sn)(S,Se)2 và Cu(In,Ga)(S,Se)2". Luận án giải quyết trực tiếp khoảng trống nghiên cứu (research gap) về công nghệ chế tạo pin màng mỏng bán dẫn họ chalcopyrite và kesterite thông qua phương pháp pha lỏng phi chân không (non-vacuum solution processing), hoàn toàn loại bỏ dung môi cực độc Hydrazine ($N_2H_4$) và hạn chế tối đa việc sử dụng hệ thiết bị chân không cao đắt tiền.
┌────────────────────────────────────────────────────────┐
│ Cấu trúc Pin Mặt Trời │
│ CZTSSe / CIGSSe Hoàn Chỉnh │
└────────────────────────────────────────────────────────┘
│
┌─────────────────────────────────────────┼─────────────────────────────────────────┐
▼ ▼ ▼
┌───────────────────────┐ ┌───────────────────────┐ ┌───────────────────────┐
│ Điện Cực Dưới (Mo) │ │ Lớp Hấp Thụ Quang │ │ Điện Cực Cửa Sổ │
│ Phún xạ 3 lớp DC/RF │────────▶│ CZTSSe / CIGSSe │────────▶│ AgNW/ZnO (ALD) hoặc │
│ Kháng bóc tách & Se │ │ Hot-injection + Se │ │ ZnO/ITO (Phún xạ) │
└───────────────────────┘ └───────────────────────┘ └───────────────────────┘
Mục tiêu khoa học và câu hỏi nghiên cứu của luận án được chuẩn hóa thành 4 hệ thống giả thuyết:
- Câu hỏi nghiên cứu 1 ($RQ_1$): Làm thế nào để kiểm soát ứng suất cơ học và ngăn chặn sự thâm nhập quá mức của hơi Selen phá hủy liên kết màng Molybdenum (Mo) trên đế thủy tinh ở nhiệt độ cao?
Giả thuyết ($H_1$): Cấu trúc màng Mo ba lớp kết hợp lớp đệm DC xốp (100 nm) giải tỏa ứng suất và lớp phủ bề mặt RF đặc khít (200 nm) sẽ triệt tiêu hiện tượng bong tróc và kiểm soát chiều dày lớp chuyển tiếp $MoSe_2$. - Câu hỏi nghiên cứu 2 ($RQ_2$): Cơ chế nhiệt động lực học nào chi phối quá trình hình thành hạt nano đơn pha CZTS và CIGS đồng đều dưới 30 nm trong dung môi hữu cơ bằng phương pháp phun nóng (hot-injection)?
Giả thuyết ($H_2$): Việc tối ưu hóa nhiệt độ phun nóng từ 195°C đến 255°C với hệ dung môi kết hợp Hexanethiol và Oleylamine cho phép kiểm soát tốc độ tạo mầm tinh thể và tỷ lệ hợp thức nguyên tử $Cu/(Zn+Sn)$ và $Zn/Sn$. - Câu hỏi nghiên cứu 3 ($RQ_3$): Quá trình Selen hóa màng in gạt hạt nano ở điều kiện nhiệt độ và khối lượng Se nào sẽ tối ưu hóa sự phát triển hạt tinh thể lớn, giảm thiểu sai hỏng tái tổ hợp và tối ưu vùng cấm quang học ($E_g$)?
Giả thuyết ($H_3$): Selen hóa tại khoảng nhiệt độ 510°C - 530°C đối với CZTS và khối lượng 0,2 - 0,4 g Se đối với CIGS sẽ thúc đẩy sự thay thế đồng hình $S \rightarrow Se$, mở rộng hạt tinh thể lên cấp micromet và hình thành tiếp xúc dị thể chất lượng cao. - Câu hỏi nghiên cứu 4 ($RQ_4$): Giải pháp điện cực cửa sổ nào thay thế được lớp TCO truyền thống dễ vỡ và tránh phá hủy lớp đệm CdS do xung plasma trong phún xạ?
Giả thuyết ($H_4$): Màng lai mạng dây nano Bạc phủ màng mỏng oxit kẽm lắng đọng đơn lớp nguyên tử ($AgNW/ZnO$ qua ALD) sẽ đạt điện trở bề mặt $R_{sheet} \le 12\ \Omega/\Box$ và độ truyền qua quang học $T \ge 76%$.
Khung lý thuyết của công trình tích hợp sâu sắc giữa Vật lý bán dẫn màng mỏng, Lý thuyết tiếp xúc dị thể p-n Shockley-Read-Hall (SRH), và Cơ chế tái tổ hợp quang điện tử. Công trình hoàn thiện trên quy mô 108 trang, 71 hình vẽ đồ thị và 4 bảng số liệu chi tiết, chứng minh hiệu suất chuyển đổi quang điện ($\eta$) đạt xấp xỉ 4% ở điều kiện thử nghiệm chuẩn AM 1.5G ($1000\ W/m^2$, 25°C).
Literature Review và Positioning
Vật liệu quang điện màng mỏng đã trải qua nhiều giai đoạn tiến hóa cấu trúc. Dòng pin mặt trời chalcopyrite $Cu(In,Ga)(S,Se)_2$ (CIGSSe) và kesterite $Cu_2ZnSn(S,Se)_4$ (CZTSSe) thuộc nhóm bán dẫn trực tiếp có hệ số hấp thụ quang học cực cao ($\alpha > 10^4\ cm^{-1}$), cho phép hấp thụ 99% photon khả kiến chỉ với độ dày màng từ 1 đến 2 $\mu m$.
┌────────────────────────────────────────┐
│ Tiến Trình Công Nghệ Chalcopyrite/ │
│ Kesterite Màng Mỏng │
└────────────────────────────────────────┘
│
┌─────────────────────────────────────────┼─────────────────────────────────────────┐
▼ ▼ ▼
┌──────────────────────────────┐ ┌──────────────────────────────┐ ┌──────────────────────────────┐
│ Đồng bốc bay Chân không cao │ │ Hòa tan dung môi Cực độc │ │ Hóa học Xanh Phi chân không │
│ - ZSW Đức: CIGS 22.6% │ │ - IBM Hoa Kỳ: CZTSSe 12.6% │ │ - Purdue: Agrawal et al. │
│ - Empa Thụy Sĩ: CZTSe 9.4% │ │ - Dung môi Hydrazine độc │ │ - Luận án Tuân et al.: │
│ - Hạn chế: Chi phí, quy mô │ │ - Hạn chế: Môi trường │ │ Hot-injection + In gạt │
└──────────────────────────────┘ └──────────────────────────────┘ └──────────────────────────────┘
Trong bức tranh nghiên cứu quốc tế, các cột mốc công nghệ đỉnh cao bao gồm:
- Trường phái đồng bốc bay chân không cao (Co-evaporation): Nhóm nghiên cứu tại Trung tâm Nghiên cứu Năng lượng Mặt trời và Hydrogen Baden-Württemberg (ZSW - Đức), dẫn đầu bởi Jackson et al. (2016), đã xác lập kỷ lục hiệu suất pin CIGSSe lên tới 22,6% [75] trên diện tích 0,4 $cm^2$. Tại Thụy Sĩ, Viện Empa (Andres et al., 2016) chế tạo thành công pin CZTSe đạt hiệu suất 9,4% [3]. Dù đạt hiệu suất cao, phương pháp này đòi hỏi môi trường chân không siêu cao ($< 10^{-6}\ Torr$), kiểm soát bay hơi đa nguồn phức tạp, tiêu tốn năng lượng và khó mở rộng diện tích lớn với chi phí thấp.
- Trường phái hóa học hòa tan dung môi Hydrazine: Nhóm nghiên cứu của Tập đoàn IBM (Mitzi, Wang et al., 2014) kết hợp cùng TOK (Nhật Bản) đã công bố hiệu suất kỷ lục thế giới 12,6% cho pin CZTSSe [103] và 15,2% cho CIGSSe [97]. Tuy nhiên, việc sử dụng Hydrazine ($N_2H_4$) – một chất khử không màu, cực kỳ dễ cháy nổ và có độc tính gây ung thư nghiêm trọng – đặt ra rào cản bất khả thi cho sản xuất thương mại và an toàn môi trường.
- Trường phái in phủ hạt nano phi chân không (Colloidal Nanoparticle Printing): Nhóm nghiên cứu tại Đại học Purdue (Agrawal et al., 2011, 2013) đã tiên phong tổng hợp hạt nano CZTS/CIGS bằng phương pháp phun nóng phân tán trong dung môi hữu cơ tạo mực in màng mỏng, đạt hiệu suất 9% đối với CZTSSe [66] và 15% đối với CIGSSe [64].
Tại Việt Nam, các nhóm nghiên cứu tiên phong như GS. Đặng Mậu Chiến (ĐHQG TP.HCM) tập trung vào pin Silic [70]; GS. Võ Thạch Sơn (ĐHBK Hà Nội) nghiên cứu pin CIS bằng phương pháp phun phủ nhiệt đạt hiệu suất 1,71% [94,101]; GS. Nguyễn Quang Liêm (Viện Khoa học Vật liệu - VAST) khảo sát tính chất quang hạt lượng tử CIS/CZTS [95]; và các nhóm nghiên cứu pin nhạy quang DSSC của GS. Lê Văn Hồng, GS. Nguyễn Năng Định [14,71].
| Tiêu chí So sánh | Đồng bốc bay (ZSW / Empa) | Dung môi Hydrazine (IBM) | Phun nhiệt (ĐHBK Hà Nội - CIS) | Luận án (Phạm Anh Tuân) |
|---|---|---|---|---|
| Hệ vật liệu | CIGSSe / CZTSe | CZTSSe / CIGSSe | $CuInS_2$ (CIS) | CZTSSe & CIGSSe |
| Môi trường chế tạo | Chân không cao ($<10^{-6}\ Torr$) | Không chân không / Inert | Không chân không | Kết hợp Sputter + Solution |
| Độc tính dung môi | Thấp (Bay hơi kim loại) | Cực cao (Hydrazine $N_2H_4$) | Thấp (Nước/Ethanol) | Thấp (Oleylamine/Hexanethiol) |
| Độ phức tạp thiết bị | Cực cao, chi phí bảo trì lớn | Vừa phải, yêu cầu phòng kín độc | Đơn giản | Đơn giản, phù hợp PTN VN |
| Hiệu suất ($\eta$) | 22,6% (CIGS) / 9,4% (CZTS) | 12,6% (CZTSSe) | 1,71% | ~4,0% (Tế bào hoàn chỉnh) |
Điểm tranh luận học thuật cốt lõi tồn tại giữa hai cấu trúc tinh thể: Kesterite (nhóm không gian $I\bar{4}$) và Stannite (nhóm không gian $I\bar{4}2m$). Các tính toán từ nguyên lý đầu (First-principles calculations) chỉ ra rằng hiệu số năng lượng tự do hình thành giữa Kesterite và Stannite cực kỳ nhỏ, chỉ khoảng 2,86 meV/nguyên tử [10]. Điều này dẫn đến sự xuất hiện phổ biến của các sai hỏng mạng $Cu\text{-}Zn$ disorder, tạo ra các mức bẫy sâu (deep defect states) làm suy giảm mạnh điện áp hở mạch ($V_{OC}\text{ deficit}$). Luận án đã định vị chính xác vị trí khoa học của mình: Làm chủ công nghệ chế tạo màng hấp thụ kesterite đơn pha bằng chu trình "Phun nóng tạo hạt nano $\rightarrow$ In gạt mực nano $\rightarrow$ Selen hóa nhiệt độ cao", thiết lập giải pháp công nghệ khả thi, an toàn và chi phí thấp.
Đóng góp lý thuyết và khung phân tích
Đóng góp cho lý thuyết vật lý bán dẫn và quang điện
Luận án mở rộng và làm sâu sắc thêm các mô hình lý thuyết kinh điển trong vật lý quang điện bán dẫn:
- Lý thuyết tái tổ hợp Shockley-Read-Hall (SRH) và Điện áp hở mạch:
Thế hở mạch ($V_{OC}$) của pin mặt trời tiếp xúc p-n được xác định qua biểu thức: $$V_{OC} = \frac{k_B T_C}{q} \ln \left( \eta_r \frac{J_{SC}}{J_0} + 1 \right)$$ Trong đó, tham số hiệu suất tái hợp $\eta_r$ phản ánh sự cạnh tranh giữa thời gian sống tái tổ hợp bức xạ ($\tau_r$) và tái tổ hợp không bức xạ ($\tau_{nr}$): $$\eta_r = \frac{1}{1 + \frac{\tau_r}{\tau_{nr}}}$$ Kết quả của luận án chứng minh rằng việc xử lý Selen hóa ở nhiệt độ cao (510°C - 530°C) kích thích quá trình tái kết tinh, làm tăng kích thước hạt tinh thể, triệt tiêu biên hạt (grain boundary recombination), từ đó kéo dài $\tau_{nr}$, nâng cao trực tiếp $\eta_r$ và tối đa hóa $V_{OC}$. - Mô hình tiếp xúc dị thể dải năng lượng đa lớp:
Mô hình giản đồ năng lượng của dị thể $Mo / MoSe_2 / CZTSSe (p) / CdS (n) / i\text{-}ZnO / ITO (n^+)$ chứng minh vai trò của lớp đệm CdS trong việc tạo ra độ gián đoạn vùng dẫn dạng "spike" dương thuận lợi ($\Delta E_C \approx 0,1 - 0,3\ eV$), ngăn chặn điện tử từ cực cửa sổ quay ngược về lớp hấp thụ để tái hợp với lỗ trống. - Mô hình mạch tương đương phi tuyến:
Mô tả định lượng sự phụ thuộc dòng - áp ($J-V$) dưới điều kiện chiếu sáng có tính đến điện trở nối tiếp $R_s$ và điện trở song song $R_{sh}$: $$I = I_L - I_0 \left[ \exp\left( \frac{q(V + I R_s)}{\gamma k_B T_C} \right) - 1 \right] - \frac{V + I R_s}{R_{sh}}$$ Luận án làm rõ tác động suy giảm hệ số điền đầy $FF = \frac{V_{mp} I_{mp}}{V_{OC} I_{SC}}$ khi $R_s$ tăng cao do các tiếp xúc ohm kém phẩm chất.
┌──────────────────────────────────────────────┐
│ Giản đồ vùng năng lượng │
│ Dị thể Mo/MoSe2/CZTSSe/CdS/ZnO/ITO │
└──────────────────────────────────────────────┘
Vùng Dẫn (Conduction Band - Ec)
----------------------- ---------------- (ZnO/ITO)
\ /
\ /
\ ----------- (CdS) <-- Hàng rào ngăn cản
\ / tái hợp điện tử
--------------------------- (CZTSSe)
======================================================================== (Mức Fermi - Ef)
--------------------------- (CZTSSe)
/ \
/ ----------- (CdS)
/ \
/ \
----------------------- ---------------- (ZnO/ITO)
Vùng Hóa Trị (Valence Band - Ev)
Khung phân tích độc đáo của luận án
Khung phân tích của luận án kết hợp đa chiều giữa khoa học vật liệu thực nghiệm và vật lý màng mỏng thông qua 3 trụ cột:
- Trụ cột 1: Cân bằng ứng suất vi mô màng điện cực Mo: Thiết lập mô hình phân bố mật độ hạt Mo thông qua phún xạ hai chế độ DC/RF, kiểm soát năng lượng động học của ion $Ar^+$ bắn phá bề mặt để tạo gradient ứng suất từ nén (compressive stress) sang kéo (tensile stress), ngăn chặn vết nứt tế vi.
- Trụ cột 2: Nhiệt động học pha màng mỏng bậc bốn và bậc năm: Khảo sát giản đồ pha $Cu\text{-}Zn\text{-}Sn\text{-}S\text{-}Se$ và $Cu\text{-}In\text{-}Ga\text{-}S\text{-}Se$, kiểm soát áp suất hơi $Se_2 / Se_n$ để thay thế vị trí anion lưu huỳnh $S \rightarrow Se$, điều chỉnh năng lượng vùng cấm $E_g$ từ 1,5 eV (thuần sulfide) xuống 1,0 eV (thuần selenide) theo quy luật Vegard biến tính.
- Trụ cột 3: Tiêu chuẩn chất lượng quang điện màng dẫn trong suốt (Haacke FOM): Đánh giá tối ưu hóa điện cực cửa sổ thông qua hệ số phẩm chất Haacke: $$\Phi_H = \frac{T^{10}}{R_{sheet}}$$ Cho phép định lượng chính xác sự đánh đổi (trade-off) giữa độ truyền qua quang học ($T$) và điện trở bề mặt ($R_{sheet}$).
Phương pháp nghiên cứu tiên tiến
Thiết kế nghiên cứu và Triết lý thực nghiệm
Nghiên cứu tuân thủ triết lý thực nghiệm khách quan (Positivism & Empirical Material Science), kết hợp chặt chẽ giữa tổng hợp hóa học ướt (wet-chemical synthesis), công nghệ lắng đọng màng mỏng chân không (Phún xạ Magnetron AJA), công nghệ lắng đọng lớp nguyên tử (ALD) và kỹ thuật xử lý nhiệt luyện pha khí.
┌───────────────────────────┐ ┌───────────────────────────┐ ┌───────────────────────────┐
│ TỔNG HỢP HẠT NANO │ │ CHẾ TẠO MÀNG MỎNG │ │ XỬ LÝ NHIỆT & SELEN HÓA │
│ - Hot-injection (195-255°C│─────▶│ - Doctor-blade (In gạt) │─────▶│ - Lò vi ống kín khí Ar │
│ - Dung môi: OLA/Hexanethio│ │ - Chiều dày: 1.0 - 1.5 µm │ │ - Nhiệt độ: 470 - 530°C │
│ - Tách pha: Ly tâm Ethanol│ │ - Đế: Mo/Thủy tinh soda │ │ - Lượng Se: 0.05 - 0.4 g │
└───────────────────────────┘ └───────────────────────────┘ └───────────────────────────┘
│
┌───────────────────────────┐ ┌───────────────────────────┐ │
│ ĐO ĐẠC & ĐÁNH GIÁ PIN │ │ TẠO LỚP ĐỆM & CỬA SỔ │ │
│ - Solar Tester (AM 1.5G) │◀─────│ - CBD tạo CdS (65°C, 30m) │◀───────────────────┘
│ - Đo J-V, Voc, Jsc, FF, η │ │ - ALD ZnO + AgNW │
│ - Xác định Rs, Rsh │ │ - Hoặc Phún xạ ZnO/ITO │
└───────────────────────────┘ └───────────────────────────┘
Quy trình công nghệ và Thiết bị phân tích
Hệ thống thiết bị và quy trình thực nghiệm được chuẩn hóa nghiêm ngặt:
- Chế tạo điện cực Mo: Hệ phún xạ đa nguồn AJA Magnetron Sputtering (Viện AIST) trang bị 2 nguồn DC và 2 nguồn RF. Khí trơ Argon được kiểm soát bằng bộ điều khiển lưu lượng khối lượng MFC (Mass Flow Controller). Màng Mo được tối ưu hóa với cấu trúc 3 lớp: lớp đáy DC 100 nm (áp suất 5 mTorr tạo độ xốp bám dính), lớp thân DC 700 nm (áp suất 2 mTorr tạo độ dẫn điện cao), và lớp đỉnh RF 200 nm (nguồn công suất 150 W RF tạo màng siêu mịn ngăn Se xâm thực).
- Tổng hợp hạt nano CZTS và CIGS:
- Phương pháp phun nóng (Hot-injection): Tiền chất kim loại gồm $Cu(OAc)_2$, $Zn(OAc)_2$, $SnCl_2$ (đối với CZTS) hoặc $CuI$, $In(acac)_3$, $Ga(acac)_3$ (đối với CIGS) được hòa tan trong Oleylamine (OLA) ở 130°C để đuổi khí và nước. Dung dịch lưu huỳnh hòa tan trong OLA được phun nhanh vào bình phản ứng ở dải nhiệt độ khảo sát 195°C, 205°C, 215°C, 225°C, 235°C, 245°C và 255°C.
- Chiết tách và tạo mực in: Hạt nano được kết tủa bằng ethanol, ly tâm ở tốc độ 6000 vòng/phút, sau đó tái phân tán hoàn hảo trong Hexanethiol ($C_6H_{13}SH$) để tạo huyền phù mực in nano có độ nhớt phù hợp cho in gạt.
- Tạo màng hấp thụ và Selen hóa: Mực in nano được gạt đều trên đế thủy tinh/Mo bằng kỹ thuật Doctor-blade. Màng sau đó được nung sơ bộ để bay hơi dung môi hữu cơ và đưa vào buồng Selen hóa ở nhiệt độ từ 470°C đến 530°C trong môi trường khí mang $N_2/Ar$ với lượng bột Selen kiểm soát chính xác từ 0,05 g đến 0,4 g.
- Lớp đệm CdS: Lắng đọng hóa học dung dịch nhúng (Chemical Bath Deposition - CBD) từ dung dịch gồm 0,49 g $CdSO_4$, 0,86 g Thiourea, 135 ml $H_2O$ và 15 ml $NH_4OH$ ở nhiệt độ 65°C trong 30 phút, tạo màng mỏng CdS đồng đều dày khoảng 30 nm.
- Điện cực cửa sổ tiên tiến:
- Màng lai $AgNW/ZnO$: Phủ mạng dây nano bạc ($AgNW$) bằng in gạt, tiếp theo là phủ màng mỏng ZnO bảo vệ bằng kỹ thuật Lắng đọng lớp nguyên tử (ALD) tại AIST với số chu kỳ phản ứng từ 100 đến 500 chu kỳ sử dụng tiền chất Diethylzinc (DEZ) và $H_2O$.
- Màng $ZnO/ITO$: Phún xạ magnetron màng đôi gồm ZnO điện trở cao ($i\text{-}ZnO$) và ITO dẫn điện tốt.
- Kỹ thuật phân tích đặc trưng:
- Cấu trúc pha tinh thể: Nhiễu xạ tia X (XRD) góc quét $2\theta = 10^\circ - 80^\circ$, đối sánh chuẩn JCPDS.
- Hình thái bề mặt và mặt cắt ngang: Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường FESEM (Hitachi S-4800).
- Thành phần nguyên tố: Phổ tán sắc năng lượng tia X (EDS) dạng điểm và quét đường (Line-scan).
- Phổ liên kết hóa học: Quang phổ quang điện tử tia X (XPS).
- Tính chất quang học: Máy quang phổ UV-Vis spectrophotometer đo độ truyền qua ($T%$) và hệ số hấp thụ ($\alpha$).
- Tính chất điện: Hệ đo 4 mũi nhọn (Four-point probe) xác định điện trở bề mặt ($R_{sheet}$).
- Đặc trưng quang điện pin: Hệ thống đo mô phỏng mặt trời Solar Tester đạt chuẩn AM 1.5G ($1000\ W/m^2$, nhiệt độ mẫu ổn định 25°C).
Phát hiện đột phá và implications
Những phát hiện then chốt với bằng chứng thực nghiệm
- Giải quyết triệt để sự cố bong tróc màng điện cực Mo:
Màng Mo đơn lớp phún xạ DC truyền thống ở áp suất thấp (2 mTorr) đạt điện trở suất thấp ($r \approx 1,2 \times 10^{-5}\ \Omega\cdot cm$) nhưng bị bong tróc 100% diện tích sau khi Selen hóa ở 500°C do ứng suất nhiệt cơ và sự tạo thành $MoSe_2$ mất kiểm soát dọc theo biên hạt cột. Bằng việc sáng tạo cấu trúc Mo 3 lớp (Lớp đệm DC 100 nm ở 5 mTorr + Lớp thân DC 700 nm ở 2 mTorr + Lớp phủ đỉnh RF 200 nm), cấu trúc màng trở nên siêu bền vững. Phổ EDS Line-scan chứng minh lớp Mo-RF đặc khít đã chặn đứng sự khuếch tán sâu của Se, chỉ cho phép hình thành một lớp $MoSe_2$ chuyển tiếp mỏng tối ưu (< 50 nm), đóng vai trò tiếp xúc ohmic lý tưởng cho lỗ trống. - Nhiệt độ tối ưu hóa tổng hợp hạt nano CZTS và CIGS:
Phân tích XRD và EDS xác nhận nhiệt độ phun nóng có ảnh hưởng quyết định đến tỷ lệ nguyên tử. Tại 195°C - 215°C, hạt CZTS tạo thành bị thiếu hụt kẽm ($Zn\text{-}poor$). Khi nhiệt độ đạt 225°C - 245°C, hạt nano đạt cấu trúc pha kesterite hoàn hảo, kích thước hạt đồng đều dưới 30 nm, phân tán tuyệt đối trong Hexanethiol không bị vón tụ. Đối với CIGS, nhiệt độ 255°C cho tỷ lệ hợp thức $Cu:In:Ga:S$ tối ưu và phổ hấp thụ UV-Vis cho thấy bờ hấp thụ dịch chuyển mạnh về vùng khả kiến với độ rộng vùng cấm quang học xác định $E_g \approx 1,45\ eV$. - Động học Selen hóa tái cấu trúc màng hấp thụ:
Khi Selen hóa màng CZTS ở nhiệt độ tăng dần từ 470°C, 490°C, 510°C đến 530°C, đỉnh nhiễu xạ (112) trên giản đồ XRD dịch chuyển rõ rệt về phía góc quét nhỏ hơn ($2\theta$ giảm từ $28,44^\circ$ xuống $27,20^\circ$), minh chứng cho sự thay thế hoàn toàn của ion có bán kính lớn $Se^{2-}$ ($1,98\ \text{Å}$) vào vị trí của $S^{2-}$ ($1,84\ \text{Å}$) trong mạng tinh thể. Ảnh FESEM mặt cắt ngang cho thấy ở 510°C - 530°C, các hạt nano (<30 nm) đã kết tụ và mọc tinh thể thành các hạt lớn kích thước $1 - 1,5\ \mu m$ kéo dài xuyên suốt chiều dày màng, triệt tiêu gần như hoàn toàn biên hạt tái tổ hợp. - Màng điện cực cửa sổ lai $AgNW/ZnO$ chế tạo bằng ALD:
Màng dây nano bạc phủ ZnO qua ALD giải quyết xuất sắc mâu thuẫn giữa độ dẫn và độ truyền qua. Khi số chu kỳ ALD đạt 300 - 400 chu kỳ, lớp màng oxit ZnO bao bọc đồng đều toàn bộ các nút giao dây bạc ($AgNW\text{ junctions}$), giảm điện trở bề mặt từ $25\ \Omega/\Box$ xuống $7 - 12\ \Omega/\Box$, đồng thời duy trì độ truyền qua quang học ở mức $76%$. Phổ XPS khẳng định liên kết hóa học $Ag\text{-}O$ và $Zn\text{-}O$ bền vững, bảo vệ dây nano bạc khỏi quá trình oxy hóa khí quyển. - Thông số hoạt động của Tế bào quang điện hoàn chỉnh:
Tế bào pin mặt trời cấu trúc $Thủy\ tinh / Mo / CZTSSe / CdS / ZnO / ITO / Ag$ và $Thủy\ tinh / Mo / CIGSSe / CdS / ZnO / ITO / Ag$ đạt các thông số quang điện vượt trội trong điều kiện chế tạo không chân không:- Pin CZTSSe Selen hóa tại 510°C: Điện áp hở mạch $V_{OC} = 410\ mV$, mật độ dòng ngắn mạch $J_{SC} = 18,5\ mA/cm^2$, hệ số điền đầy $FF = 0,52$, hiệu suất chuyển đổi $\eta \approx 3,94%$.
- Pin CIGSSe Selen hóa với 0,3 g Se: Điện áp hở mạch $V_{OC} = 445\ mV$, mật độ dòng ngắn mạch $J_{SC} = 20,2\ mA/cm^2$, hệ số điền đầy $FF = 0,48$, hiệu suất chuyển đổi $\eta \approx 4,31%$.
┌──────────────────────────────────────────────┐
│ Đặc tính Dòng - Áp (J-V) │
│ Dưới nguồn sáng chuẩn AM 1.5G │
└──────────────────────────────────────────────┘
Mật độ dòng J (mA/cm²)
│
25 ┼──────────────────┐
│ │ (Tối: J gần như bằng 0 khi V < 0.4V)
20 ┼ - - - - - - - - -│- - - - - - - - - - - - - - - - - - -
│ │ │
15 ┼ │ Đường cong J-V Chiếu sáng │ Pmax (Vmp, Jmp)
│ │ Jsc ≈ 20.2 mA/cm² ▼
10 ┼ │ ─────────────────────────────┐
│ │ \
5 ┼ │ \
│ │ \
0 ┴──────────────────┴─────────────────────────────────────┴─────▶ Điện áp V (Volt)
0 0.1 0.2 0.3 0.4 (Voc ≈ 0.445V)
Ý nghĩa khoa học và Ứng dụng thực tiễn
- Ý nghĩa Lý thuyết & Học thuật: Đặt nền móng lý thuyết thực nghiệm cho việc kiểm soát pha tinh thể kesterite/chalcopyrite đa cấu tử thông qua con đường động học hóa học pha lỏng. Công bố quốc tế trên các tạp chí ISI uy tín: Green Processing and Synthesis (2016) [DOI: 10.1515/gps-2016-0021] và Nanotechnology (2016) [DOI: 10.1088/0957-4484/27/33/335202], Journal of Electronic Materials (2016).
- Ý nghĩa Công nghệ & Môi trường: Đưa ra quy trình sản xuất màng quang điện "xanh", loại bỏ hoàn toàn việc sử dụng dung môi kịch độc Hydrazine, mở ra triển vọng ứng dụng công nghệ in cuộn (Roll-to-roll printing) trên các đế mềm dẻo (flexible substrates).
- Ý nghĩa Kinh tế - Xã hội: Hạ thấp đáng kể rào cản chi phí đầu tư thiết bị chân không, chứng minh năng lực tự chủ nghiên cứu chế tạo pin mặt trời màng mỏng thế hệ mới hoàn chỉnh ngay tại các phòng thí nghiệm trong nước.
Limitations và Future Research
Mặc dù đạt được những bước tiến mang tính đột phá, luận án thẳng thắn chỉ ra các giới hạn kỹ thuật nội tại:
- Sự thiếu hụt thế hở mạch ($V_{OC}\text{ deficit}$): Hiệu suất tế bào dừng lại ở mức ~4% (so với kỷ lục thế giới 12,6% của IBM hay 22,6% của ZSW) chủ yếu do mật độ khuyết tật bẫy sâu ($Cu\text{-}Zn$ antisite defects) và hiện tượng tách pha thứ cấp kích thước nanomet ($ZnS, Cu_2SnS_3$) tại mặt phân giới chưa được kiểm soát triệt để.
- Dư lượng tạp chất Carbon và Oxy: Việc sử dụng chất hoạt động bề mặt hữu cơ (Oleylamine, Hexanethiol) trong quá trình tổng hợp hạt nano để lại một lớp màng carbon mỏng dạng màng chắn vi mô sau Selen hóa, làm tăng điện trở nối tiếp ($R_s$) của linh kiện.
- Giới hạn diện tích hoạt động (Active Area): Các mẫu pin mới được chế tạo trên diện tích tế bào nhỏ ($0,4 - 1,0\ cm^2$), chưa tiến hành phân tích độ suy giảm hiệu suất khi ghép nối thành mô-đun kích thước lớn.
Chương trình nghiên cứu 10 năm tiếp theo
- Hướng 1: Kỹ thuật biến tính tạp chất kiềm và Cation thay thế: Đưa các nguyên tố kiềm ($Na, K, Cs$) vào màng Mo hoặc lớp hấp thụ thông qua xử lý sau lắng đọng (Post-deposition treatment - PDT); thay thế một phần kẽm bằng Cadmium ($Cd$) hoặc Mangan ($Mn$), thay thế thiếc bằng Germanium ($Ge$) nhằm tinh chỉnh cấu trúc vùng năng lượng, giảm triệt để $V_{OC}\text{ deficit}$.
- Hướng 2: Khử hoàn toàn carbon bằng quy trình quang hóa/Ozone: Ứng dụng kỹ thuật tiền xử lý màng in gạt bằng chiếu xạ tử ngoại kết hợp xử lý khí Ozone ($UV\text{-}Ozone$) hoặc plasma nhiệt độ thấp trước khi Selen hóa để loại bỏ triệt để liên kết hữu cơ chuỗi dài.
- Hướng 3: Chế tạo pin mặt trời cấu trúc Tandem siêu hiệu suất: Tích hợp lớp hấp thụ CZTSSe hoặc CIGSSe có độ rộng vùng cấm hẹp ($1,0 - 1,1\ eV$) làm tế bào đáy (bottom cell) kết hợp với lớp tế bào đỉnh Perovskite ($1,6 - 1,7\ eV$) nhằm phá vỡ giới hạn hiệu suất Shockley-Queisser của pin đơn lớp, hướng tới hiệu suất mô-đun vượt trên 28%.
Tác động và ảnh hưởng
┌──────────────────────────────────────────────┐
│ Ma Trận Tác Động Toàn Diện Của Luận Án │
└──────────────────────────────────────────────┘
│
┌───────────────────────────────────────────────┼───────────────────────────────────────────────┐
▼ ▼ ▼
┌───────────────────────────────┐ ┌───────────────────────────────┐ ┌───────────────────────────────┐
│ HỌC THUẬT & ĐÀO TẠO │ │ CÔNG NGHIỆP NĂNG LƯỢNG │ │ CHÍNH SÁCH QUỐC GIA │
│ - Chuỗi công bố ISI uy tín │ │ - Chuyển giao công nghệ in │ │ - Đóng góp Chiến lược NLTT │
│ - Tài liệu tham khảo chuẩn mực│ │ mực nano chi phí thấp │ │ Quyết định 2058/QĐ-TTg │
│ về vật liệu Kesterite │ │ - Giảm phụ thuộc vật liệu hiếm│ │ - Phát triển chuỗi cung ứng │
└───────────────────────────────┘ └───────────────────────────────┘ └───────────────────────────────┘
- Tác động Học thuật: Cung cấp nguồn trích dẫn học thuật nền tảng cho cộng đồng nghiên cứu quang điện tại Việt Nam và khu vực Đông Nam Á. Các bài báo công bố từ luận án mở ra hướng nghiên cứu liên ngành giữa Vật lý chất rắn, Hóa keo và Công nghệ nano.
- Chuyển dịch Công nghiệp: Công nghệ tổng hợp hạt nano và tạo mực in gạt mở đường cho các doanh nghiệp sản xuất linh kiện quang điện chế tạo pin mặt trời màng mỏng tích hợp tòa nhà (BIPV) với chi phí sản xuất ước tính giảm 30-40% so với công nghệ bốc bay chân không truyền thống.
- Hỗ trợ Chính sách Năng lượng: Cung cấp luận cứ khoa học thực nghiệm vững chắc, chứng minh năng lực nội địa hóa công nghệ chế tạo pin mặt trời theo định hướng Chiến lược phát triển năng lượng tái tạo của Chính phủ đến năm 2050.
Đối tượng hưởng lợi
- Nghiên cứu sinh và Giảng viên chuyên ngành Vật liệu/Vật lý: Tiếp cận một quy trình thực nghiệm chi tiết từ tổng hợp vật liệu hạt nano đơn pha, chế tạo màng đa lớp đến kỹ thuật đóng gói và đo đạc thông số pin quang điện chuẩn quốc tế.
- Bộ phận R&D của các Tập đoàn Năng lượng & Bán dẫn: Kế thừa bí quyết công nghệ phún xạ màng Mo 3 lớp chống bóc tách và giải pháp màng điện cực cửa sổ lai $AgNW/ZnO$ bằng ALD để ứng dụng vào sản xuất màn hình cảm ứng, pin mặt trời màng mỏng uốn dẻo.
- Các Cơ quan Quản lý Khoa học và Hoạch định Chính sách: Sở hữu bằng chứng thực tiễn để xây dựng các chương trình tài trợ nghiên cứu trọng điểm quốc gia (NAFOSTED, Chương trình KHCN 911), định hướng phát triển chuỗi giá trị công nghệ sạch tự chủ.
Câu hỏi chuyên sâu
1. Đóng góp lý thuyết độc đáo nhất của luận án là gì?
Luận án đã mở rộng mô hình truyền điện tử và tái tổ hợp tại vùng điện tích không gian tiếp xúc dị thể chalcopyrite/kesterite khi kiểm soát nồng độ pha tạp dị thể thông qua động học khuếch tán Selen. Luận án chứng minh sự hình thành tự phát có kiểm soát của lớp rào thế đơn pha $MoSe_2$ dạng định hướng trục $c$ đóng vai trò lớp chặn tái tổ hợp lỗ trống (electron-reflector / hole-selective contact), làm sâu sắc thêm lý thuyết phát xạ nhiệt và xuyên hầm tiếp xúc kim loại - bán dẫn.
2. Điểm cải tiến phương pháp luận cốt lõi so với các nghiên cứu quốc tế là gì?
So với phương pháp hòa tan Hydrazine của IBM (Mitzi et al. [103]) vốn độc hại chết người và phương pháp đồng bốc bay chân không cao của ZSW (Jackson et al. [75]) vốn đắt đỏ, luận án đã thiết lập quy trình tích hợp khép kín: Tổng hợp hạt nano bằng phản ứng phun nóng xanh $\rightarrow$ Phân tán mực nano trong dung môi an toàn Hexanethiol $\rightarrow$ In gạt tạo màng không chân không $\rightarrow$ Xử lý Selen hóa nhiệt độ cao kết hợp cấu trúc điện cực Mo 3 lớp (DC/DC/RF). Quy trình này vừa đảm bảo an toàn tuyệt đối cho người thao tác, vừa cắt giảm hơn 60% chi phí thiết bị chế tạo.
3. Phát hiện thực nghiệm nào bất ngờ và có ý nghĩa vật lý lớn nhất?
Phát hiện bất ngờ nhất là hiện tượng sụt giảm đột ngột điện trở tiếp xúc nút giao của mạng dây nano bạc ($AgNW$) khi được phủ một lớp oxit kẽm siêu mỏng bằng ALD (100 - 300 chu kỳ). Thay vì làm tăng điện trở như suy đoán thông thường về việc phủ thêm oxit bán dẫn, lớp ZnO lắng đọng đơn lớp nguyên tử tạo ra hiệu ứng nén cơ học vi mô và lấp đầy các khoảng trống tiếp xúc giữa các dây nano, làm giảm điện trở bề mặt màng từ $25\ \Omega/\Box$ xuống $7\ \Omega/\Box$ trong khi vẫn giữ nguyên hệ số truyền qua quang học ở mức $76%$.
┌──────────────────────────────────────────────┐
│ Hiệu ứng Lớp Phủ ZnO (ALD) Lên Mạng │
│ Dây Nano Bạc (AgNW) │
└──────────────────────────────────────────────┘
TRƯỚC KHI PHỦ ZnO (Chỉ có AgNW) SAU KHI PHỦ ZnO QUA ALD (300 chu kỳ)
┌───────────────────────────────────┐ ┌───────────────────────────────────┐
│ \ / │ │ \█████/ │
│ \ / │ │ \███/ │
│ \ / <-- Nút giao tiếp xúc│ │ \█/ <-- Khóa liên kết │
│ / \ lỏng lẻo, Rs cao │ │ /█\ chặt chẽ bởi ZnO │
│ / \ │ │ /███\ Rs giảm mạnh │
│ / \ │ │ /█████\ │
│ R_sheet ≈ 25 Ω/□ │ │ R_sheet ≈ 7 - 12 Ω/□ │
└───────────────────────────────────┘ └───────────────────────────────────┘
4. Luận án có cung cấp quy trình tái lập thực nghiệm (Replication Protocol) hoàn chỉnh không?
Hoàn toàn có. Luận án mô tả chi tiết từng bước: Từ khối lượng tiền chất chính xác ($0,49\ g\ CdSO_4$, $0,86\ g\ \text{Thiourea}$ trong tổng hợp CdS; áp suất phún xạ Mo 5 mTorr và 2 mTorr; nhiệt độ phản ứng phun nóng 195°C - 255°C; dải nhiệt độ Selen hóa 470°C - 530°C với lượng bột Se từ 0,05 g đến 0,4 g). Mọi thông số điều khiển lưu lượng khí MFC, công suất nguồn DC (150 W) và RF đều được chuẩn hóa, cho phép bất kỳ phòng thí nghiệm màng mỏng quang điện nào cũng có thể tái lập chính xác.
5. Lộ trình phát triển công nghệ trong 10 năm tới được vạch ra như thế nào?
Lộ trình tập trung vào 3 giai đoạn:
- Giai đoạn 1 (1-3 năm): Tinh chỉnh cấu trúc vi mô, thụ động hóa biên hạt bằng muối kiềm ($NaF, KF$) để nâng hiệu suất pin CZTSSe phi chân không lên 8-10%.
- Giai đoạn 2 (4-6 năm): Phát triển kỹ thuật in phun (inkjet printing) hoặc in cuộn (slot-die roll-to-roll) trên đế polyimide mềm dẻo.
- Giai đoạn 3 (7-10 năm): Chế tạo mô-đun pin quang điện tích hợp màng mỏng diện tích lớn ($30 \times 30\ cm^2$) và phát triển pin đa tiếp giáp Tandem Perovskite/CZTSSe đạt hiệu suất thương mại hóa > 25%.
Kết luận
Công trình luận án tiến sĩ của NCS. Phạm Anh Tuân đã hoàn thành xuất sắc các mục tiêu nghiên cứu đặt ra, đem lại 5 đóng góp học thuật và công nghệ cốt lõi:
- Thiết kế và chế tạo thành công lớp điện cực đáy Molybdenum đa tầng (Mo-DC/Mo-RF): Triệt tiêu hoàn toàn ứng suất phá hủy màng, kiểm soát chiều dày lớp chuyển tiếp $MoSe_2$, bảo đảm tính bám dính và ổn định nhiệt tuyệt đối trong môi trường Selen hóa trên 500°C.
- Làm chủ công nghệ tổng hợp hạt nano kesterite CZTS và chalcopyrite CIGS đơn pha bằng phương pháp phun nóng: Xác lập bộ thông số nhiệt độ tối ưu (225°C - 245°C đối với CZTS và 255°C đối với CIGS), tạo ra các hạt nano siêu mịn dưới 30 nm phân tán hoàn hảo trong dung môi không độc hại.
- Làm sáng tỏ cơ chế Selen hóa pha lỏng: Chuyển hóa thành công màng in gạt hạt nano thành màng hấp thụ quang học đơn pha CZTSSe và CIGSSe có độ kết tinh cao, kích thước hạt tinh thể lớn ($> 1\ \mu m$), tối ưu hóa độ rộng vùng cấm quang học $E_g$ trong dải lý tưởng $1,0 - 1,45\ eV$.
- Phát triển thành công điện cực cửa sổ màng lai tiên tiến $AgNW/ZnO$ bằng công nghệ ALD: Đạt điện trở bề mặt $7 - 12\ \Omega/\Box$ và độ truyền qua $76%$, mở ra giải pháp thay thế hoàn hảo cho màng TCO truyền thống, loại bỏ nguy cơ plasma phá hủy lớp đệm nhạy cảm.
- Chế tạo hoàn chỉnh tế bào pin mặt trời màng mỏng hoạt động ổn định: Xác lập hiệu suất chuyển đổi quang điện xấp xỉ 4% ở điều kiện tiêu chuẩn AM 1.5G bằng quy trình hóa học xanh phi chân không, khẳng định tính tự chủ khoa học công nghệ và đóng góp thiết thực vào chiến lược phát triển năng lượng tái tạo bền vững.
Trích đoạn nội dung luận án
Tải xuống để đọc toàn bộBỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC BÁCH KHOA HÀ NỘI PHẠM ANH TUÂN NGHIÊN CỨU VÀ CHẾ TẠO PIN MẶT TRỜI Cu(Zn,Sn)(S,Se)2 VÀ Cu(In,Ga)(S,Se)2 LUẬN ÁN TIẾN SĨ KHOA HỌC VẬT LIỆU Hà Nội – 2017 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC BÁCH KHOA HÀ NỘI PHẠM ANH TUÂN NGHIÊN CỨU VÀ CHẾ TẠO PIN MẶT TRỜI Cu(Zn,Sn)(S,Se)2 VÀ Cu(In,Ga)(S,Se)2 Chuyên ngành: Vật liệu điện tử Mã số: 62440123 LUẬN ÁN TIẾN SĨ KHOA HỌC VẬT LIỆU NGƯỜI HƯỚNG DẪN KHOA HỌC: 1. NGUYỄN DUY CƯỜNG 2. NGUYỄN VIỆT HƯNG Hà Nội – 2017 i LỜI CAM ĐOAN Tôi xin cam đoan đây là công trình nghiên cứu của tôi dưới sự hướng dẫn của: TS. Nguyễn Duy Cường và TS.
Nguyễn Việt Hưng. Các kết quả nghiên cứu được trình bày trong luận án là trung thực, khách quan và chưa từng được tác giả khác công bố. Hà Nội, ngày tháng năm 2017 TM. Tập thể Giáo viên hướng dẫn Tác giả Phạm Anh Tuân ii LỜI CẢM ƠN Tôi xin bày tỏ lòng biết ơn sâu sắc và gửi lời cảm ơn tới TS.
Nguyễn Duy Cường và TS. Nguyễn Việt Hưng, những người thầy đã định hướng cho tôi tư duy khoa học, phương pháp nghiên cứu và phương pháp thực nghiệm trong thời gian khoảng 1 năm chuẩn bị đề cương nghiên cứu và trong suốt quá trình thực hiện luận án. Tôi xin trân trọng cảm ơn Lãnh đạo trường Đại học Bách Khoa Hà Nội, Viện Đào tạo Sau Đại học, Viện Tiên tiến Khoa học và Công Nghệ (AIST) đã tạo mọi điều kiện thuận lợi nhất cho tôi trong suốt quá trình học tập và nghiên cứu. Tôi xin gửi lời cảm ơn tới Lãnh đạo Trường Đại học Điện lực, Khoa Kỹ thuật điện cùng các anh chị em đồng nghiệp đã động viên, tạo điều kiện thuận lợi để tôi thực hiện tốt luận án.
Tôi xin cảm ơn các anh/chị là cán bộ Viện AIST, các anh chị em nghiên cứu sinh Viện AIST – Trường Đại học Bách Khoa Hà Nội đã cùng đồng hành, giúp đỡ, khích lệ, động viên tôi quá trình nghiên cứu. Tôi xin cảm ơn sự hỗ trợ kinh phí từ đề tài số 103.36, do Quĩ phát triển Khoa học và Công nghệ Quốc gia (NAFOSTED) cấp. Tôi xin cảm ơn sự hỗ trợ kinh phí từ 911 do Bộ Giáo dục và Đào tạo cấp. Cuối cùng tôi xin dành những tình cảm đặc biệt và biết ơn của mình đến bố mẹ, vợ, các con; bằng tình yêu, sự cảm thông, quan tâm và chia sẻ, đã cho tôi nghị lực, tạo động lực cho tôi thực hiện thành công luận án.
Hà Nội, ngày tháng năm 2017 Tác giả Phạm Anh Tuân iii MỤC LỤC LỜI CAM ĐOAN .ii MỤC LỤC. iii DANH MỤC KÝ HIỆU VÀ CHỮ VIẾT TẮT .vii DANH MỤC BẢNG. ix DANH MỤC HÌNH VẼ, ĐỒ THỊ. Lý do chọn đề tài.
Mục tiêu của luận án. Đối tượng và phạm vi nghiên cứu. Nội dung nghiên cứu. Phương pháp nghiên cứu.
Ý nghĩa khoa học và thực tiễn của luận án. Những đóng góp mới của luận án. 5 CHƯƠNG 1: TỔNG QUAN VỀ PIN MẶT TRỜI CZTSSe VÀ CIGSSe.1 Giới thiệu về Pin mặt trời .1 Giới thiệu chung về Pin mặt trời .2 Nguyên lý hoạt động của Pin mặt trời .3 Pin mặt trời đơn lớp và Pin mặt trời đa lớp .2 Đặc tính làm việc của Pin mặt trời (Đặc trưng I-V) .1 Đặc trưng I-V của Pin mặt trời khi không được chiếu sáng .2 Đặc trưng I-V của Pin mặt trời khi được chiếu sáng .3 Các thông số đặc trưng của Pin mặt trời .1 Thế hở mạch (VOC) .2 Mật độ dòng điện ngắn mạch (JSC) .3 Điểm làm việc có công suất lớn nhất (Pmax) .4 Hệ số điền đầy (FF) .6 Điện trở nối tiếp (Rs) và Điện trở shunt (Rsh) .4 Pin mặt trời CZTSSe và CIGSSe .1 Giới thiệu chung.2 Cấu tạo chung và chức năng của các lớp trong Pin .5 Lớp điện cực dưới .7 Lớp điện cực cửa sổ .8 Lớp điện cực trên .9 Lớp hấp thụ ánh sáng CZTSSe và CIGSSe .1 Vật liệu CZTSSe và CIGSSe .2 Lớp hấp thụ ánh sáng CZTSSe và CIGSSe .1 Phương pháp đồng bốc bay .2 Phương pháp hoà tan bằng Hydrazine .3 Phương pháp phún xạ .4 Phương pháp phun phủ nhiệt .5 Phương pháp in gạt dung dịch chứa hạt nano CZTS và CIGS .6 Phương pháp điện hoá. 34 CHƯƠNG 2: NGHIÊN CỨU CHẾ TẠO LỚP ĐIỆN CỰC DƯỚI BẰNG MOLYBDENUM THEO PHƯƠNG PHÁP PHÚN XẠ .1 Giới thiệu hệ phún xạ được dùng trong nghiên cứu và chế tạo màng Mo .2 Tạo màng Molybdenum 1 lớp bằng phún xạ sử dụng nguồn DC .1 Quy trình tạo màng Mo 1 lớp bằng phún xạ sử dụng nguồn DC .2 Kết quả tạo màng Mo 1 lớp bằng phún xạ sử dụng nguồn DC.3 Chế tạo màng Mo 2 lớp bằng phún xạ nguồn DC, lớp đệm 100 nm .1 Quy trình chế tạo màng Mo 2 lớp, bằng phún xạ nguồn DC, lớp đệm 100 nm.2 Cấu trúc và hình thái bề mặt màng Mo 2 lớp.3 Cấu trúc và hình thái bề mặt màng Mo 2 lớp sau khi Selen hoá .4 Thành phần nguyên tử trong màng phún xạ Mo 2 lớp sau khi Selen hoá .5 Giản đồ XRD của màng Mo 2 lớp sau khi Selen hoá .6 Điện trở bề mặt màng Mo 2 lớp trước và sau khi Selen hoá .7 Khả năng bám dính của màng Mo 2 lớp trước và sau khi Selen hoá .4 Chế tạo Màng Mo 3 lớp, với 200 nm phún xạ bằng nguồn RF bên trên .1 Quy trình phún xạ tạo màng Mo 3 lớp, với 200 nm phún xạ bằng nguồn RF .2 Kết quả đạt được.
49 CHƯƠNG 3: NGHIÊN CỨU CHẾ TẠO LỚP ĐIỆN CỰC CỬA SỔ.1 Chế tạo lớp điện cực cửa sổ AgNW/ZnO bằng phương pháp ALD .1 Giới thiệu phương pháp tạo màng bằng ALD .2 Hệ ALD dùng cho nghiên cứu tạo màng điện cực cửa sổ .3 Quy trình tạo màng AgNW/ZnO .4 Phân tích kết quả tạo màng AgNW/ZnO bằng ALD .1 Ảnh FESEM bề mặt màng .2 Phổ truyền qua và độ lệch truyền qua của các màng .3 Điện trở bề mặt và độ lệch điện trở bề mặt của các màng .4 Độ tương quan giữa hệ số truyền qua và điện trở bề mặt .5 Phân tích lý do giảm của điện trở màng AgNW/ZnO so với màng AgNW .2 Nghiên cứu chế tạo màng điện cực cửa sổ ZnO/ITO bằng phương pháp phún xạ. 63 CHƯƠNG 4: NGHIÊN CỨU TỔNG HỢP HẠT NANO CZTS, CIGS BẰNG PHƯƠNG PHÁP PHUN NÓNG; SELEN HOÁ TẠO LỚP HẤP THỤ ÁNH SÁNG CZTSSe, CIGSSe; VÀ HOÀN THIỆN TẾ BÀO PIN MẶT TRỜI .1 Nghiên cứu chế tạo hạt nano CZTS, CIGS và tạo mực in nano .1 Giới thiệu phương pháp nghiên cứu .2 Phương pháp phun nóng (hot-injection method) để tạo hạt nano CZTS và CIGS.3 Phương pháp phân tán tạo mực in chứa các hạt nano CZTS và CIGS .4 Quy trình tổng hợp hạt nano CZTS, CIGS và tạo mực in nano .5 Kết quả nghiên cứu tổng hợp hạt nano CZTS .4 Phổ hấp thụ ánh sáng .6 Kết quả nghiên cứu tổng hợp hạt nano CIGS .2 Chế tạo lớp hấp thụ ánh sáng CZTSSe và CIGSSe .1 Giới thiệu phương pháp .2 Phương pháp in gạt mực in nano để tạo màng CZTS và CIGS .3 Phương pháp Selen hoá màng CZTS và CIGS để tạo màng CZTSSe và CIGSSe.4 Nghiên cứu chế tạo màng CZTSSe bằng Selen hoá màng CZTS.1 Giản đồ XRD màng CZTS và CIGSSe trên đế Mo .2 Ảnh FESEM và kết quả phân tích EDS .5 Nghiên cứu chế tạo màng CIGSSe bằng Selen hoá màng CIGS .1 Giản đồ XRD màng CIGSSe .2 Ảnh FESEM màng CIGSSe .3 Phổ EDS màng CIGSSe và tỉ lệ Se/(S+Se).3 Hoàn thiện tế bào Pin mặt trời CZTSSe và CIGSSe .1 Kết quả đo đặc trưng I-V của Pin mặt trời CZTSSe .2 Kết quả đo đặc trưng I-V của Pin mặt trời CIGSSe. 96 KẾT LUẬN VÀ KIẾN NGHỊ. 97 DANH MỤC CÁC CÔNG TRÌNH ĐÃ CÔNG BỐ CỦA LUẬN ÁN.
99 TÀI LIỆU THAM KHẢO. 100 vii DANH MỤC KÝ HIỆU VÀ CHỮ VIẾT TẮT Stt Ký hiệu Tên tiếng Anh Tên tiếng Việt 1 e Electron Điện tử 2 EV Valence energy Năng lượng vùng hoá trị 3 EC Conduction band energy Năng lượng vùng dẫn 4 EF Fermi energy Năng lượng Fermi 5 Eg Energy band gap Độ rộng vùng cấm 6 FF Fill factor Hệ số điền kín 7 h Hole Lỗ trống 8 Ingược Dòng điện ngược 9 Ithuận Dòng điện thuận 10 Ik.tán Dòng điện khuếch tán 11 Itrôi Dòng điện trôi Imp Curent at maximum power Dòng điện ở điểm công suất cực 12 output đại 13 ISC Short circuit current Cường độ dòng ngắn mạch Jmp Current density at maximum Mật độ dòng điện tại điểm phát 14 power output công suất cực đại 15 JSC Short circuit current density Mật độ dòng ngắn mạch 16 kB Hằng số Boltzmann 17 Rs Serial resistance Điện trở nối tiếp 18 Rsh Shunt resistance Điện trở song song (shunt) 19 Rbềmặt Sheet resistance Điện trở bề mặt 20 T Transmitance Độ truyền qua 21 US Hiệu điện thế tổng 22 Ut.
Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ
Trích dẫn luận án này
Phạm Anh Tuân (2017). Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS [Luận án tiến sĩ, Trường Đại học Bách Khoa Hà Nội]. LuanAn.net. https://luanan.net/nang-luong-moi-truong/nghien-cuu-che-tao-pin-mat-troi-cztsse-cigsse-pham-anh-tuan
Câu hỏi thường gặp
Luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" nghiên cứu về vấn đề gì?
Nghiên cứu chuyên sâu về pin mặt trời CZTSSe và CIGSSe trong luận án tiến sĩ, phân tích cấu trúc, hiệu suất và tiềm năng ứng dụng.
Luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" được bảo vệ tại trường nào?
Luận án này được bảo vệ tại Trường Đại học Bách Khoa Hà Nội. Năm bảo vệ: 2017.
Luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" thuộc chuyên ngành gì?
Luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" thuộc chuyên ngành Vật liệu điện tử. Danh mục: Năng Lượng & Môi Trường.
Luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" có bao nhiêu trang?
Luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" có 122 trang. Bạn có thể xem trước một phần tài liệu ngay trên trang web trước khi tải về.
Cách tải luận án "Nghiên cứu Pin Mặt Trời CZTSSe và CIGSSe - Luận án TS" về máy như thế nào?
Để tải luận án về máy, bạn nhấn nút "Tải xuống ngay" trên trang này, sau đó hoàn tất thanh toán phí lưu trữ. File sẽ được tải xuống ngay sau khi thanh toán thành công. Hỗ trợ qua Zalo: 0559 297 239.