Luận án tiến sĩ: Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In
Luận án tiến sĩ nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In. Tập trung vào tối ưu hóa vật liệu bán dẫn cho ứng dụng năng lượng tái tạo.
vietnam national university - ho chi minh university of science
Materials Science
Luan An
Luận án
Năm xuất bản
Số trang
186
Thời gian đọc
28 phút
Lượt xem
1
Lượt tải
0
Phí lưu trữ
50 Point
Mục lục chi tiết
Tóm tắt nội dung
I. Tổng Quan Màng ZnO Pha Tạp Ga Và In
Màng ZnO pha tạp đồng thời Ga và In đang thu hút sự chú ý lớn trong lĩnh vực vật liệu nhiệt điện. ZnO là oxit bán dẫn có cấu trúc wurtzite, độ ổn định nhiệt cao và thân thiện môi trường. Việc pha tạp Ga và In tạo ra các màng GZO và IZO với tính chất điện tử được cải thiện đáng kể. Nghiên cứu tập trung vào việc tối ưu hóa các thông số nhiệt điện như hệ số Seebeck, độ dẫn điện và hệ số công suất. Màng ZnO:Ga và ZnO:In cho thấy tiềm năng ứng dụng trong các thiết bị thu hồi năng lượng nhiệt. Công nghệ chế tạo màng mỏng cho phép kiểm soát chính xác nồng độ pha tạp và cấu trúc vi mô.
1.1. Đặc Điểm Cấu Trúc Màng ZnO Pha Tạp
Cấu trúc tinh thể wurtzite của ZnO cung cấp nền tảng lý tưởng cho việc pha tạp. Ga và In thay thế Zn trong mạng tinh thể, tạo ra các mức năng lượng donor. Kích thước nguyên tử của Ga (0.62 Å) và In (0.80 Å) tương đồng với Zn (0.74 Å), giúp giảm biến dạng mạng. Độ kết tinh và định hướng ưu tiên ảnh hưởng trực tiếp đến tính chất dẫn điện. Phương pháp chế tạo xác định hình thái bề mặt và mật độ khuyết tật.
1.2. Cơ Chế Pha Tạp Đồng Thời Ga Và In
Pha tạp đồng thời Ga và In tạo hiệu ứng hiệp đồng độc đáo. Ga có xu hướng tăng nồng độ hạt tải, trong khi In cải thiện độ linh động. Sự kết hợp này tối ưu hóa cân bằng giữa độ dẫn điện và hệ số Seebeck. Nồng độ pha tạp tối ưu thường nằm trong khoảng 1-5 at%. Quá trình khuếch tán và phân bố đồng đều của tạp chất ảnh hưởng đến hiệu suất nhiệt điện.
1.3. Ứng Dụng Vật Liệu Nhiệt Điện ZnO
Vật liệu nhiệt điện ZnO pha tạp phù hợp cho ứng dụng nhiệt độ trung bình (300-700K). Chi phí thấp và độ bền cao là ưu điểm vượt trội so với vật liệu telluride. Ứng dụng tiềm năng bao gồm thu hồi nhiệt thải công nghiệp và cảm biến nhiệt độ. Khả năng tích hợp với công nghệ vi điện tử mở ra hướng phát triển mới. Tính thân thiện môi trường đáp ứng yêu cầu phát triển bền vững.
II. Tính Chất Nhiệt Điện Màng ZnO Ga GZO
Màng GZO thể hiện tính chất nhiệt điện ưu việt nhờ sự tối ưu hóa nồng độ hạt tải. Ga3+ thay thế Zn2+ tạo ra electron tự do, tăng độ dẫn điện lên đến 10^4 S/cm. Hệ số Seebeck âm xác nhận tính dẫn điện kiểu n. Hệ số công suất đạt giá trị cao khi cân bằng giữa độ dẫn điện và Seebeck. Nhiệt độ ủ và áp suất oxy ảnh hưởng mạnh đến cấu trúc khuyết tật. Độ dày màng và tốc độ lắng đọng quyết định chất lượng tinh thể. Màng GZO có độ ổn định nhiệt tốt trong môi trường khí quyển.
2.1. Độ Dẫn Điện Của Màng GZO
Độ dẫn điện tăng tuyến tính với nồng độ Ga đến ngưỡng bão hòa. Nồng độ tối ưu thường đạt ở 2-3 at% Ga. Độ linh động hạt tải bị giới hạn bởi tán xạ ion hóa tạp chất và biên hạt. Nhiệt độ chế tạo cao cải thiện độ kết tinh và giảm điện trở. Xử lý nhiệt sau lắng đọng giúp kích hoạt tạp chất và giảm khuyết tật điểm. Giá trị độ dẫn điện cao nhất đạt được ở nhiệt độ phòng vượt 3000 S/cm.
2.2. Hệ Số Seebeck Màng GZO
Hệ số Seebeck của GZO biến đổi từ -20 đến -80 μV/K. Giá trị âm phản ánh bản chất bán dẫn kiểu n với electron là hạt tải chính. Nồng độ hạt tải cao làm giảm hệ số Seebeck theo lý thuyết Mott. Cấu trúc vùng năng lượng và khối lượng hiệu dụng ảnh hưởng đến Seebeck. Sự phụ thuộc nhiệt độ tuân theo mô hình khuếch tán hạt tải. Tối ưu hóa Seebeck yêu cầu cân bằng giữa nồng độ và độ linh động.
2.3. Hệ Số Công Suất Màng GZO
Hệ số công suất (PF = S²σ) là thông số quan trọng đánh giá hiệu suất nhiệt điện. Màng GZO đạt PF tối đa khoảng 2-4 μW/cm·K² ở nhiệt độ phòng. Tối ưu hóa đồng thời độ dẫn điện và Seebeck là thách thức chính. Nồng độ Ga 2-3 at% cho PF cao nhất trong hầu hết nghiên cứu. Nhiệt độ đo ảnh hưởng đến PF do sự thay đổi của σ và S. Giá trị PF của GZO cạnh tranh với nhiều vật liệu nhiệt điện oxit khác.
III. Đặc Trưng Nhiệt Điện Màng ZnO In IZO
Màng IZO nổi bật với độ linh động hạt tải cao hơn so với GZO. In có bán kính ion lớn hơn Ga, tạo ra biến dạng mạng khác biệt. Độ dẫn điện của IZO có thể đạt 10^4 S/cm với nồng độ tối ưu. Hệ số Seebeck của IZO thường cao hơn GZO ở cùng nồng độ hạt tải. Sự kết hợp giữa độ linh động cao và Seebeck vừa phải tạo PF cạnh tranh. Màng IZO thể hiện độ trong suốt quang học tốt trong vùng khả kiến. Ổn định hóa học và nhiệt của IZO phù hợp cho ứng dụng thực tế.
3.1. Cơ Chế Dẫn Điện Trong IZO
In3+ đóng vai trò donor hiệu quả trong mạng ZnO. Mỗi nguyên tử In cung cấp một electron tự do vào vùng dẫn. Độ linh động cao của IZO do bán kính ion In lớn làm giảm tán xạ. Nồng độ hạt tải tối ưu nằm trong khoảng 10^20-10^21 cm^-3. Cơ chế dẫn điện chủ yếu qua biên hạt ở màng đa tinh thể. Xử lý nhiệt cải thiện kết nối giữa các hạt và giảm rào thế.
3.2. Phân Tích Hệ Số Seebeck IZO
Hệ số Seebeck của IZO dao động từ -30 đến -100 μV/K. Giá trị cao hơn GZO ở cùng độ dẫn điện là lợi thế đáng kể. Khối lượng hiệu dụng lớn hơn của IZO góp phần tăng Seebeck. Sự phụ thuộc nhiệt độ cho thấy cơ chế khuếch tán là chủ đạo. Biến dạng mạng do In tạo ra các mức năng lượng cục bộ có lợi. Đo Seebeck theo nhiệt độ cung cấp thông tin về cấu trúc vùng năng lượng.
3.3. Hiệu Suất Nhiệt Điện Tổng Thể IZO
Hệ số công suất của IZO cạnh tranh với GZO và các oxit khác. Giá trị PF điển hình đạt 3-5 μW/cm·K² ở điều kiện tối ưu. Độ dẫn nhiệt thấp của ZnO là lợi thế cho ZT figure of merit. ZT của IZO có thể đạt 0.1-0.3 ở nhiệt độ trung bình. Cải thiện thêm yêu cầu giảm độ dẫn nhiệt mạng tinh thể. Kỹ thuật tạo cấu trúc nano và siêu mạng hứa hẹn tăng ZT.
IV. So Sánh Màng GZO Và IZO Đồng Pha Tạp
Pha tạp đồng thời Ga và In tạo hiệu ứng hiệp đồng vượt trội. Ga tối ưu hóa nồng độ hạt tải trong khi In cải thiện độ linh động. Sự kết hợp này đạt được cân bằng tốt hơn giữa σ và S. Tỷ lệ Ga:In ảnh hưởng quyết định đến tính chất nhiệt điện. Màng đồng pha tạp cho PF cao hơn so với pha tạp đơn lẻ. Cấu trúc khuyết tật phức tạp hơn nhưng có lợi cho tán xạ phonon. Độ ổn định nhiệt và hóa học được cải thiện nhờ hiệu ứng bù trừ.
4.1. Tối Ưu Tỷ Lệ Ga In
Tỷ lệ Ga:In tối ưu thường nằm trong khoảng 1:1 đến 2:1. Ga chiếm ưu thế trong việc tăng nồng độ hạt tải. In đóng góp chủ yếu vào việc cải thiện độ linh động. Tổng nồng độ tạp chất nên duy trì ở 2-4 at% để tránh bão hòa. Phân bố đồng đều của cả hai tạp chất là yếu tố quan trọng. Tỷ lệ tối ưu phụ thuộc vào phương pháp chế tạo và điều kiện xử lý.
4.2. Hiệu Ứng Hiệp Đồng Trong Dẫn Điện
Độ dẫn điện của màng đồng pha tạp cao hơn 20-40% so với đơn pha tạp. Ga và In cùng đóng góp electron nhưng với cơ chế tán xạ khác nhau. Sự kết hợp giảm tán xạ ion hóa tạp chất hiệu quả. Biên hạt trở nên dẫn điện tốt hơn nhờ sự có mặt của cả hai tạp chất. Nhiệt độ kích hoạt giảm, cho thấy rào thế năng lượng thấp hơn. Độ linh động tổng hợp đạt giá trị cao nhất ở tỷ lệ Ga:In tối ưu.
4.3. Cải Thiện Hệ Số Công Suất
Hệ số công suất của màng đồng pha tạp đạt 5-7 μW/cm·K². Giá trị này cao hơn 50-100% so với GZO hoặc IZO đơn thuần. Cân bằng tối ưu giữa σ và S là nguyên nhân chính. Hệ số Seebeck duy trì ở mức cao (-50 đến -70 μV/K). Độ dẫn điện tăng mạnh mà không làm giảm quá nhiều Seebeck. Kết quả này mở ra triển vọng ứng dụng thực tế cho vật liệu ZnO.
V. Phương Pháp Chế Tạo Màng ZnO Pha Tạp
Các phương pháp chế tạo màng mỏng ảnh hưởng trực tiếp đến tính chất nhiệt điện. Phún xạ magnetron RF là kỹ thuật phổ biến cho màng ZnO pha tạp. Phương pháp sol-gel chi phí thấp nhưng khó kiểm soát độ đồng nhất. Bốc bay chùm electron cho phép kiểm soát chính xác thành phần. Lắng đọng laser xung (PLD) tạo màng chất lượng cao với độ kết tinh tốt. Nhiệt độ đế, áp suất khí nền và tốc độ lắng đọng là tham số quan trọng. Xử lý nhiệt sau lắng đọng cải thiện đáng kể tính chất điện.
5.1. Kỹ Thuật Phún Xạ Magnetron
Phún xạ RF magnetron cho phép lắng đọng màng đồng nhất trên diện rộng. Target gốm ZnO pha tạp Ga và In được sử dụng làm nguồn vật liệu. Công suất RF điển hình từ 100-200W, áp suất Ar 1-10 mTorr. Nhiệt độ đế từ nhiệt độ phòng đến 500°C ảnh hưởng độ kết tinh. Tốc độ lắng đọng 5-20 nm/phút đảm bảo chất lượng màng. Thêm oxy vào khí nền giúp kiểm soát nồng độ khuyết tật oxy.
5.2. Điều Kiện Xử Lý Nhiệt
Ủ nhiệt trong không khí hoặc khí quyển kiểm soát là bước quan trọng. Nhiệt độ ủ tối ưu thường từ 400-600°C trong 1-2 giờ. Ủ trong chân không hoặc khí trơ tăng nồng độ khuyết tật oxy. Ủ trong không khí giảm nồng độ hạt tải nhưng cải thiện độ kết tinh. Tốc độ gia nhiệt và làm nguội ảnh hưởng đến ứng suất màng. Chu kỳ ủ nhiệt nhiều lần có thể tối ưu hóa tính chất điện.
5.3. Kiểm Soát Độ Dày Và Cấu Trúc
Độ dày màng từ 100 nm đến vài micromet ảnh hưởng tính chất. Màng mỏng hơn có nồng độ khuyết tật biên hạt cao hơn. Màng dày hơn thể hiện tính chất gần với vật liệu khối. Cấu trúc đa lớp với tỷ lệ pha tạp khác nhau cải thiện PF. Kỹ thuật lắng đọng tuần tự tạo gradient nồng độ có lợi. Kiểm soát định hướng tinh thể tối ưu hóa độ linh động hạt tải.
VI. Đánh Giá ZT Figure Of Merit Và Triển Vọng
ZT figure of merit là thông số tổng hợp đánh giá hiệu suất nhiệt điện. Công thức ZT = S²σT/κ, với κ là độ dẫn nhiệt tổng. Màng ZnO pha tạp Ga và In đạt ZT từ 0.1 đến 0.4 ở 300-700K. Giảm độ dẫn nhiệt mạng là hướng nghiên cứu then chốt để tăng ZT. Cấu trúc nano, siêu mạng và composite hứa hẹn cải thiện ZT. Ứng dụng thực tế yêu cầu ZT > 1 để có hiệu suất kinh tế. Vật liệu ZnO có lợi thế về chi phí, độ bền và thân thiện môi trường.
6.1. Phân Tích Độ Dẫn Nhiệt
Độ dẫn nhiệt của ZnO khối khoảng 50 W/m·K ở nhiệt độ phòng. Màng mỏng có κ thấp hơn do tán xạ phonon tại biên hạt. Pha tạp Ga và In làm giảm κ_lattice nhờ tán xạ khuyết tật điểm. Đóng góp điện tử κ_e = LσT tăng theo độ dẫn điện. Tổng κ = κ_lattice + κ_e cần được tối ưu hóa đồng thời với σ và S. Giảm kích thước hạt xuống nano làm giảm mạnh κ_lattice.
6.2. Chiến Lược Tăng ZT
Tăng hệ số công suất thông qua tối ưu nồng độ và tỷ lệ pha tạp. Giảm độ dẫn nhiệt bằng cấu trúc nano, ranh giới hạt và khuyết tật. Kỹ thuật band engineering điều chỉnh cấu trúc vùng năng lượng. Tạo siêu mạng ZnO/ZnO:Ga,In giảm κ mà không ảnh hưởng σ. Composite với pha thứ hai như carbon nanotubes cải thiện PF. Phương pháp modulation doping tách không gian ion hóa và dẫn điện.
6.3. Triển Vọng Ứng Dụng Thực Tế
Module nhiệt điện ZnO phù hợp cho thu hồi nhiệt thải 300-700K. Ứng dụng trong công nghiệp ô tô, nhà máy và điện tử tiêu dùng. Chi phí thấp và độ bền cao là lợi thế cạnh tranh chính. Tích hợp với công nghệ in 3D và điện tử mềm mở ra ứng dụng mới. Cảm biến nhiệt độ và năng lượng tự cấp cho IoT là thị trường tiềm năng. Nghiên cứu tiếp tục cần thiết để đạt ZT > 1 cho thương mại hóa.
Tải xuống file đầy đủ để xem toàn bộ nội dung
Tải đầy đủ (186 trang)Trích đoạn nội dung luận án
Tải xuống để đọc toàn bộVIETNAM NATIONAL UNIVERSITY - HO CHI MINH UNIVERSITY OF SCIENCE INSTITUTE FOR NANOTECHNOLOGY PHAM THANH TUAN ANH Doctoral Thesis Ho Chi Minh City — 2024 VIETNAM NATIONAL UNIVERSITY - HO CHI MINH UNIVERSITY OF SCIENCE INSTITUTE FOR NANOTECHNOLOGY PHAM THANH TUAN ANH STUDYING THERMOELECTRIC PROPERTIES OF Ga AND In CO-DOPED ZnO THIN FILMS Specialty: Materials Science Code: 62440122 Reviewer 1: Assoc. Nguyén Tran Ha Reviewer 2: Assoc. Nguyén Manh Tuan Reviewer 3: Assoc. Dao Vinh Ai Independent reviewer 2: Assoc.
Nguyễn Dang Nam SUPERVISORS 1. Tran Cao Vinh 2. Phan Bach Thang Ho Chi Minh City — 2024 Declaration I declare that my PhD thesis in Material Science, with the title “Studying thermoelectric properties of Ga and In co-doped ZnO thin films” is a scientific work done by myself under the supervision of Assoc. Tran Cao Vinh and Prof.
Phan Bach Thang. The research results of the thesis are completely honest and accurate, and do not coincide with previous studies that have been domestically and internationally published. Candidate Pham Thanh Tuan Anh Acknowledgments As I reach the culmination of my doctoral journey and prepare to submit this thesis, I am filled with immense gratitude and a profound sense of accomplishment. This academic endeavor would not have been possible without the unwavering support, guidance, and encouragement of numerous individuals who have played significant roles in shaping my academic and personal growth.
I would like to express my heartfelt appreciation to all of you. I am deeply grateful to Vietnam National University Ho Chi Minh City, specifically University of Science, Center for Innovative Materials and Architectures, and Institute of Nanotechnology, for providing me with the opportunity to work, study, and pursue my doctoral studies. The intellectual environment, state-of-the-art facilities, and exceptional faculty members have been instrumental in fostering my research skills and cultivating a passion for knowledge. I would like to express my sincere gratitude to my supervisors, Assoc.
Tran Cao Vinh and Prof. Phan Bach Thang. Their expertise, guidance, and patience have been invaluable throughout this research journey. Their unwavering support and constructive feedback have not only strengthened the quality of this thesis but have also helped me grow as a researcher.
I am truly fortunate to have had their instruction, and their influence will remain with me as I embark on future endeavors. I would like to express my appreciation to my colleagues at Laboratory of Advanced Materials, Faculty of Materials Science and Technology, Faculty of Physics and Engineering physics, and INOMAR Center, with whom I have had the privilege to collaborate and exchange ideas, especially MSc. Nguyen Huu Truong, MSc. Hoang Van Dung, Assoc.
Pham Kim Ngoc, Dr. Ta Thi Kieu Hanh, Dr. Le Tran, MSc. Lai Thi Hoa, Dr.
Tran Quang Minh Nhat, MSc. Truong Cao Dai, MSc. Nguyen Duy Khanh, MSc. Doan Thi Tu Uyen, and BSc.
Phan Thi Thuy Trang. Your assistance, insights, and discussions have broadened my perspectives, challenged my assumptions, and elevated the quality of my research. To my friends and students, thank you for standing by me through difficulties. Your support and encouragement have been a constant source of strength throughout my doctoral pursuit.
Your belief in my abilities has pushed me forward and made the process enjoyable. I cherish the memories we have created together and look forward to many more adventures in the future. My heartfelt thanks go to my loving family, my grandparents, my parents, my brothers, and my relatives for their unconditional love and constant encouragement. Your unwavering belief in my potential has been the driving force behind my achievements.
Your sacrifices and understanding have made it possible for me to focus on my studies and pursue my passion wholeheartedly. I am eternally grateful for the support you have provided. My deepest love goes to my beautiful wife, MSc. Le Truong Kieu Oanh and my children for your support, love, and care.
All of you are the biggest motivation for me to endeavor. I would also like to especially thank Prof. Kuei-Hsien Chen (Academia Sinica, Taiwan), Prof. Sungkyun Park (Pusan National University, Korea), Prof.
Su-Dong Park (Korea Electrotechnology Research Institute, Korea), Prof. Ohtaki Michitaka (Kyushu University, Japan), and everyone who have contributed to my academic and personal growth, through scientific instruments, experimental analyses, discussions, encouragement, or a simple act of kindness. Last but not least, I would like to acknowledge financial support from Vietnam Ministry of Science and Technology, National Foundation of Science and Technology Development of Vietnam (NAFOSTED), Vietnam National University Ho Chi Minh City (VNU-HCM), University of Science, Vingroup Innovation Foundation (VINIF), and Vallet Scholarship. Contents Thesis information .0009009 009 00966090 i List of figures and graphs.ccsccssssscscsscccsscessscssccccsscsscscssccsesscccssessscsssccsesecees iii List of data tables.
HH 0000404005000 00900 ix List of symbols and aCTOIIVITS. HC 001060060010 400050004084 00 xi Chapter 1. Overview and mOfÏVAfÏOII. Evaluation of thermoelectric DerfOTmaiCe.
Dimensionless figure of merit and power ÍaCfOT. Quality factor oo. Trade-offs among TE parameters. «kg HH ng ng 8 1.
Seebeck COeÍICITIL.- G9 HH HH ng nh 8 1. Density-of-state (DOS) effective mass. Optimization prObÏ€mm. Thermoelectric ZnO Imiaf€TIÌÏS.-- óc 11212119111 1 2 1 vn ng re 12 1.
Suitability for power-generation appÏ1CafIO'S. Research literature and Motivation .-- 5 55 + ke 14 IS Noi ỆPP£POIIIIOỔOỜOỔ3. Thin-film Immaf€T1AÌS. - 5 5 S131 vn ng rn 17 1.
Scientific ideas and DUTDOS€S .-- - - 131 v1 1 H1 ng ng ng 20 1. Dimension reduction apprOachh. Synthesis technique s€Ï€CfIOT. Experiments and metho(Ì0ÌOĐÏ€S.
--s- <5 e< se< se ess=seesesse25 2. Materials and composition calculation. Bulk material synthesis 718. Thin-film synntheSI1S.-- 5 11v SH HH HH 30 2.
Fabrication of sputtering farB€fS. Deposition DTOC€SS.- HH HH HH 32 2.-- -- << + E11 vn ng ng nệt 34 2. X-ray photoelectron SD€CfTOSCODY. Photoluminescence sD€CITOSCODV.
Seebeck and resistivity MeaSUFEMENL. Hall effect-based measurermehnf. Laser flash analysis. Ăn HT TH HH TH kg 41 2.
Time-domain thermoreflectance. Differential scanning Calorimetry .- 5 2 11311230 E911 9119 119 ng ng ng nệt 49 2. Other analysis technn1QU€S.- - -- <6 1x 19 E9 kg re 50 Chapter 3. Compensation of Zn substitution and secondary phase segregation in thermoelectric IGZO bulk materials.
Elemental binding energy analysis. Lattice defect eVaÏUALIOII. Electrical and thermopower Properties. Thermoelectric quality factor and figure Of T€TII.
Lattice-defect engineering in thermoelectric IGZO thin films. Dual-doping strategy 0. Composition and binding energy anaÌyS€S. Microcrystalline structure and morphoÌOØV.
Electrical and thermopower properties. Thermal properties and thermoelectric performance. --- ----- 96 ÝÄxU ni 8v an. Chemical binding state and structural anaÏysS1S.
Energy band structure and point def€CfS. - 2G G1 ng TH ni HH nà 114 Chapter 5. Fermi-level and band structure modification in thermoelectric properties of IGZO thin films. Crystallography, band structure, and Fermi-level position.
Morphology and mICTOSfTUCẦUTC. Power factor components and band fÏattening. Thermal components and thermoelectric performance. 2G 0 0110119011930 911991 TH ng ve 138 Conclusions and future WOFKS.
so 555 5 2< 56 9 99919 989898950800956096856 139 List of related UDÌÏÏCiAÏOTNS,.004004 000 161 Thesis information Thesis title: Studying thermoelectric properties of Ga and In co-doped ZnO thin films. Speciality: Material Science Code: 62440122 Name of PhD Student: Pham Thanh Tuan Anh Academic year: 2017 Supervisors: Assoc. Tran Cao Vinh Prof. Phan Bach Thang At: VNUHCM- University of Science 1.
SUMMARY: This thesis aims to introduce, investigate, and optimize thermoelectric In and Ga co-doped ZnO materials in both bulk and thin-film forms which can convert efficiently waste heat to electricity at medium- and high-temperature regions. In particular, the structural and thermoelectric properties of the ZnO-based thin films are modified by controlling carrier concentration, mobility, Fermi level, density-of- state effective mass, and lattice defects in the films. This research is an important step toward fabricating real TE modules, specifically thin-film devices. Furthermore, the effects of dopants on electrical and phonon transport mechanisms are clarified.
This understanding can orient for other dopants in thermoelectric ZnO-based materials. NOVELTY OF THESIS: i. The one-step prepared IGZO bulks which were directly sintered at 1400°C obtain the lowest thermal conductivity and the highest power factor, especially at high temperature. The spinel phase segregation is found to be the main reason.
The analysis of secondary phase-controlled TE performance in terms of DOS effective mass, weighted mobility, and quality factor can be viewed as a novel approach for ZnO-based system. It is an effort to inherit good properties of the bulks, combined with the advantages of thin films, to optimize the TE performance of the IGZO films. The TE properties of the IGZO films are controlled through lattice-defect engineering that was conducted in two ways: dual-doping and post-thermal treatment. The combination of the dual-doping effect and post-thermal treatment is found to reduce significantly the thermal conductivity of the IGZO thin films to 0.95 W/mK, leading to the highest figure of merit ZT = 0.
Band structure modification is found one of the state-of-the-art strategies to control electrical and thermal transport properties, and optimize the TE performance. Tuning In and Ga contents is found to coupling modification of Fermi level and band flattening, leading to the ZT of 0.2 and PF of 745.2 uW/mK? at 573 K for the IGZO films deposited from the Ino. It proposes that the IGZO thin films approach the high ZT region (ZT = 0.2) of advanced nanostructured ZnO- based bulks. The determination of thermal conductivity is normally challenging for thin- film materials due to their transparency, and ultra-fast thermal diffusivity, which cannot be measured by common laser flash analyses.
In this thesis, the thermal diffusivity and conductivity of the IGZO thin films were estimated using the time- domain thermoreflectance (TDTR) technique with high sensitivity and accuracy. APPLICATIONS/ APPLICABILITY/ PERSPECTIVE i. The introduction of novel IGZO thin films with optimized TE performance can continue to be published, and extend to other dopants in ZnO-based materials. |The IGZO bulks can be applied for thermoelectric power generation batteries.
The IGZO thin films can be used in miniaturized devices, such as power supply for the Internet of Things and for powering wearable electronics/sensors powered by body heat. -11- List of figures and graphs Figure 1. Thermoelectric effects: (a) Seebeck effect, (b) Peltier effect, and (c) Thomson effect, including absorption and evolution of heat. Dependence of Seebeck coefficient S, electrical conductivity ø, thermal conductivity x, power factor PF, and figure of merit ZT on carrier concentration n.
Structural model of hexagonal wurtzite of ZnO material. Some thermoelectric materials with appropriate operating temperature ranges. Adapted from the Refs. Description of top-down approach for synthesizing ZnO-based thin films.
A comprehensive characterization is essential for modifying the structure, properties, modeling, and processing of ZnO-based mat€r1aÌS. The preparation processes: (a) ball milling, (b) the 1“ step — sintering of one-step preparation, and precursor powder preparation of two-step preparation, (c) the 2TM step — sintering of two-step preparation; (d) naked-eye photograph and (e) volumetric change of the IGZO bulks sintered by various prOCesSes. Temperature setpoints and hourly schedule for the thermal processes of DI e0) Tố ằẻ ằe. Homemade 3-inch targets with various compositions after many times of sputtering: (a)-(b) Representative green compact body prior to sintering, (c) ZnO, (d) GZO, (e) IGZO 0.
Sputtering system Leybold Univex-450 at AM-Lab. Measurement configurations of (a) Seebeck coefficient, (b) resistivity, and (c) thin-film modes; (d) commercial ULVAC ZEM-3 system at KERI; (e) commercial Linseis LSR-3 system at INOMAR Center. Commercial Hall measurement systems: (a) Room-temperature Ecopia HMS-3000, (b) the HTSST3 heated stage sample kit to 300°C at IAMS, and (c) design of Ecopia HMS-5500 and experiments on it at KERI. (a) Overview of a typical LFA system, (b) principle of LFA technique, and (c) typical transient temperature rise curve from LFA.
Commercial LFA systems: (a)-(b) Netzsch LFA-457 system, and coating samples with graphite prior to the measurements at KERI; (c) Linseis LFA500/1000 system at INOMAR Center; and (d) KEM LFA-502 at Kyushu University.
Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ
Từ khóa và chủ đề nghiên cứu
Câu hỏi thường gặp
Luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" nghiên cứu về vấn đề gì?
Luận án tiến sĩ nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In. Tập trung vào tối ưu hóa vật liệu bán dẫn cho ứng dụng năng lượng tái tạo.
Luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" được bảo vệ tại trường nào?
Luận án này được bảo vệ tại vietnam national university - ho chi minh university of science. Năm bảo vệ: 2024.
Luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" thuộc chuyên ngành gì?
Luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" thuộc chuyên ngành Materials Science. Danh mục: Công Nghệ Vật Liệu.
Luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" có bao nhiêu trang?
Luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" có 186 trang. Bạn có thể xem trước một phần tài liệu ngay trên trang web trước khi tải về.
Cách tải luận án "Nghiên cứu tính chất nhiệt điện của màng ZnO掺杂Ga và In" về máy như thế nào?
Để tải luận án về máy, bạn nhấn nút "Tải xuống ngay" trên trang này, sau đó hoàn tất thanh toán phí lưu trữ. File sẽ được tải xuống ngay sau khi thanh toán thành công. Hỗ trợ qua Zalo: 0559 297 239.