Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và sai hỏng điểm trong

Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và các yếu tố ảnh hưởng, ứng dụng trong vật liệu bán dẫn.

Tác giả

Luan An

Thể loại

Luận án tiến sỹ

Năm xuất bản

Số trang

132

Thời gian đọc

20 phút

Lượt xem

0

Lượt tải

0

Phí lưu trữ

40 Point

Tổng quan nhanh

Chủ đề:
Nghiên cứu Khuếch Tán Tạp Chất và Sai Hỏng Điểm trong Si
Số trang:
132 trang
Trường:
Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Hà Nội
Chuyên ngành:
Vật Lý Chất Rắn
Tác giả:
Năm:

Tóm tắt nội dung luận án

I.Nghiên cứu Khuếch Tán Tạp Chất và Sai Hỏng Điểm trong Si

Luận án tập trung vào nghiên cứu khuếch tán đồng thời. Đối tượng chính là tạp chất và sai hỏng điểm trong vật liệu Silic. Đây là yếu tố then chốt cho công nghệ bán dẫn. Kiểm soát quá trình này quyết định chất lượng thiết bị điện tử. Nghiên cứu này cung cấp cái nhìn sâu sắc. Nó khám phá các cơ chế khuếch tán phức tạp. Phân tích ảnh hưởng của sai hỏng điểm. Từ đó, xây dựng mô hình dự đoán chính xác. Mục tiêu là tối ưu hóa công nghệ doping. Kết quả góp phần nâng cao hiệu suất linh kiện bán dẫn. Luận án tạo nền tảng cho sự phát triển vật liệu bán dẫn tiên tiến.

1.1. Tổng quan vật liệu bán dẫn Silic

Silic là nền tảng công nghệ bán dẫn hiện đại. Tính chất điện tử đặc biệt của silic tạo ra vô số ứng dụng. Cần kiểm soát chặt chẽ quá trình sản xuất vật liệu bán dẫn. Điều này bao gồm khuếch tán tạp chất để tạo vùng dẫn. Sự hiện diện của sai hỏng điểm ảnh hưởng đến chất lượng. Hiểu rõ vật liệu Silic là bước đầu tiên. Nó giúp tối ưu hóa hiệu suất thiết bị điện tử.

1.2. Cơ chế khuếch tán tạp chất trong Silic

Khuếch tán tạp chất là quá trình quan trọng trong sản xuất bán dẫn. Nó xác định phân bố nồng độ dopant. Nhiều cơ chế khuếch tán tạp chất tồn tại trong Silic. Các cơ chế này bao gồm khuếch tán thông qua nút khuyết. Cũng có cơ chế thông qua nguyên tử điền kẽ. Nắm vững các cơ chế này là thiết yếu. Điều này hỗ trợ kiểm soát công nghệ doping chính xác.

1.3. Vai trò sai hỏng điểm trong khuếch tán

Sai hỏng điểm đóng vai trò trung tâm trong quá trình khuếch tán. Chúng bao gồm nút khuyết (vacancies) và nguyên tử điền kẽ (interstitials). Sự tồn tại và di chuyển của chúng ảnh hưởng mạnh đến khuếch tán tạp chất. Khuếch tán đồng thời của tạp chất và sai hỏng điểm là phức tạp. Nó tác động trực tiếp đến hệ số khuếch tán. Nghiên cứu sâu về chúng giúp giải thích các hiện tượng. Nó cải thiện mô hình khuếch tán.

II.Cơ Chế Khuếch Tán Đồng Thời Tạp Chất và Khuyết Tật Điểm

Luận án đi sâu vào cơ chế khuếch tán đồng thời. Nó phân tích sự tương tác phức tạp giữa tạp chất và khuyết tật điểm. Đây là nền tảng để hiểu rõ quá trình doping. Nghiên cứu chỉ ra các yếu tố ảnh hưởng đến hệ số khuếch tán. Mối quan hệ giữa định luật Fick và định luật Onsager được làm rõ. Sự hiểu biết này giúp xây dựng mô hình khuếch tán chính xác hơn. Nó giải quyết những mâu thuẫn trong các lý thuyết hiện có. Từ đó, cải thiện khả năng dự đoán phân bố nồng độ. Góp phần vào công nghệ doping hiệu quả.

2.1. Phân tích định luật Fick và Onsager

Định luật Fick mô tả dòng khuếch tán. Nó dựa trên gradient nồng độ. Định luật Onsager cung cấp cái nhìn sâu hơn về động học. Nó xem xét các lực tổng quát và mối liên hệ. Sự tương thích giữa hai định luật này là vấn đề then chốt. Luận án này khám phá sự đồng nhất giữa chúng. Điều này giúp xây dựng mô hình khuếch tán toàn diện. Nó giải quyết các mâu thuẫn trong lý thuyết.

2.2. Sự tương tác giữa tạp chất và khuyết tật điểm

Tạp chất và khuyết tật điểm tương tác mạnh mẽ với nhau. Tương tác này ảnh hưởng đến động học khuếch tán đồng thời. Ví dụ, tạp chất boron có thể khuếch tán thông qua cả nút khuyết và nguyên tử điền kẽ. Các tương tác này làm thay đổi nồng độ cân bằng của khuyết tật điểm. Hiểu rõ sự tương tác là cần thiết. Nó giúp dự đoán chính xác phân bố nồng độ.

2.3. Hệ số khuếch tán và phụ thuộc nồng độ

Hệ số khuếch tán không phải là hằng số. Nó phụ thuộc vào nồng độ tạp chất. Cũng phụ thuộc vào nồng độ sai hỏng điểm. Sự phụ thuộc này phức tạp trong khuếch tán đồng thời. Nghiên cứu xác định cách hệ số khuếch tán thay đổi. Nó bị ảnh hưởng bởi nhiệt độ và môi trường. Điều này giúp kiểm soát công nghệ doping tốt hơn. Đảm bảo phân bố nồng độ mong muốn.

III.Mô Hình Khuếch Tán và Phân Bố Nồng Độ trong Vật Liệu Bán Dẫn

Luận án phát triển một mô hình khuếch tán mới. Mô hình này xử lý khuếch tán đồng thời của tạp chất và sai hỏng điểm. Nó sử dụng hệ phương trình khuếch tán tiên tiến. Các phương pháp giải số được áp dụng để tìm lời giải. Kết quả mô phỏng cung cấp phân bố nồng độ chi tiết. Mô hình này giúp dự đoán hành vi khuếch tán. Nó cho phép tối ưu hóa quy trình công nghệ doping. Điều này dẫn đến cải thiện chất lượng vật liệu bán dẫn. Hỗ trợ thiết kế và sản xuất thiết bị điện tử. Mô hình đóng vai trò quan trọng trong nghiên cứu khuếch tán.

3.1. Phát triển hệ phương trình khuếch tán

Xây dựng hệ phương trình là bước quan trọng của nghiên cứu. Hệ phương trình mô tả khuếch tán đồng thời của tạp chất. Nó cũng bao gồm sai hỏng điểm (nguyên tử điền kẽ, nút khuyết). Hệ phương trình này dựa trên các định luật vật lý cơ bản. Nó phải phản ánh đúng cơ chế khuếch tán thực tế. Sự chính xác của mô hình ảnh hưởng lớn đến kết quả. Hệ phương trình parabolic được thiết lập.

3.2. Phương pháp giải số cho mô hình

Giải quyết hệ phương trình phức tạp cần phương pháp số. Phương pháp sai phân hữu hạn thường được sử dụng. Các kỹ thuật như FTCS hoặc sai phân ngược dòng được áp dụng. Việc giải số cung cấp lời giải cụ thể. Nó cho phép dự đoán phân bố nồng độ. Các chương trình tính toán được phát triển. Chúng đảm bảo độ chính xác và hiệu quả.

3.3. Mô phỏng động học phân bố nồng độ

Mô phỏng động học là công cụ mạnh mẽ. Nó tái tạo quá trình khuếch tán theo thời gian. Kết quả mô phỏng cho thấy sự thay đổi phân bố nồng độ. Nó cũng tiết lộ sự tương tác giữa các loại tạp chất và khuyết tật điểm. Điều này hỗ trợ việc tối ưu hóa quy trình công nghệ doping. Mô phỏng giúp hiểu rõ hơn về hành vi vật lý.

IV.Tối Ưu Hóa Công Nghệ Doping Ảnh Hưởng Khuếch Tán Tạp Chất

Nghiên cứu mang lại giải pháp tối ưu hóa công nghệ doping. Nó tập trung vào việc kiểm soát phân bố nồng độ tạp chất. Đồng thời, giảm thiểu sai hỏng điểm trong vật liệu bán dẫn. Khuếch tán tạp chất được điều chỉnh một cách hiệu quả. Điều này cải thiện đáng kể hiệu suất linh kiện bán dẫn. Các phương pháp được đề xuất giúp sản xuất chip chất lượng cao hơn. Nó giảm thiểu chi phí và tăng cường độ tin cậy. Kết quả này rất quan trọng đối với ngành công nghiệp thiết bị điện tử. Nó mở đường cho các sản phẩm công nghệ mới.

4.1. Kiểm soát phân bố tạp chất hiệu quả

Kiểm soát chính xác phân bố nồng độ tạp chất là then chốt. Điều này ảnh hưởng trực tiếp đến chức năng của thiết bị. Nghiên cứu cung cấp cái nhìn sâu sắc. Nó giúp tinh chỉnh các thông số doping. Mục tiêu là đạt được hồ sơ nồng độ mong muốn. Sự kiểm soát này là cần thiết cho các thiết bị hiện đại. Nó đảm bảo hiệu suất hoạt động tốt.

4.2. Giảm thiểu sai hỏng điểm trong sản xuất

Sự hình thành và di chuyển của sai hỏng điểm cần được kiểm soát. Chúng có thể gây ra lỗi trong thiết bị bán dẫn. Hiểu biết về khuếch tán đồng thời giúp giảm thiểu chúng. Việc này nâng cao chất lượng vật liệu bán dẫn. Nó tăng cường độ bền và tuổi thọ của linh kiện. Giảm thiểu sai hỏng là mục tiêu hàng đầu.

4.3. Nâng cao hiệu suất linh kiện bán dẫn

Quá trình doping được tối ưu hóa. Điều này dẫn đến linh kiện bán dẫn có hiệu suất cao hơn. Các thiết bị điện tử hoạt động ổn định. Chúng có độ bền cao hơn. Nghiên cứu đóng góp vào sự phát triển này. Nó tạo ra các chip mạnh mẽ hơn. Giúp đáp ứng nhu cầu ngày càng cao của thị trường.

V.Ứng Dụng Kết Quả Nghiên Cứu vào Thiết Bị Điện Tử

Kết quả từ luận án có ứng dụng rộng rãi. Nó hỗ trợ thiết kế và sản xuất thiết bị điện tử tiên tiến. Đặc biệt là chip bán dẫn và các linh kiện tích hợp. Việc hiểu rõ khuếch tán đồng thời giúp cải thiện hiệu năng. Nó tăng cường độ bền và độ tin cậy của sản phẩm. Nghiên cứu mở ra những tiềm năng phát triển công nghệ mới. Nó định hình tương lai của ngành điện tử. Cung cấp nền tảng khoa học cho các cải tiến đột phá. Đóng góp vào sự tiến bộ của xã hội.

5.1. Thiết kế chip bán dẫn tiên tiến

Kết quả nghiên cứu có giá trị trong thiết kế. Chúng giúp phát triển chip bán dẫn hiện đại. Việc kiểm soát khuếch tán đồng thời chính xác. Điều này cho phép tạo ra cấu trúc nhỏ hơn. Nó cũng cải thiện mật độ tích hợp. Thiết kế chip ngày càng phức tạp. Nghiên cứu này cung cấp thông tin quan trọng để đạt được điều đó.

5.2. Cải thiện độ bền và hiệu năng thiết bị

Hiểu biết sâu về khuếch tán và sai hỏng điểm. Điều này dẫn đến thiết bị có độ bền cao hơn. Hiệu năng của thiết bị điện tử cũng được cải thiện đáng kể. Các sản phẩm điện tử đáng tin cậy hơn. Chúng hoạt động ổn định trong nhiều điều kiện. Điều này làm tăng sự hài lòng của người dùng.

5.3. Tiềm năng phát triển công nghệ mới

Nghiên cứu mở ra hướng đi mới. Nó thúc đẩy phát triển công nghệ doping tiên tiến. Nó cũng tạo ra vật liệu bán dẫn mới. Điều này góp phần vào tương lai của ngành điện tử. Các khám phá trong khuếch tán có thể dẫn đến đột phá. Nó hình thành các ứng dụng chưa từng có trước đây.

Xem trước tài liệu
Tải đầy đủ để xem toàn bộ nội dung
Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và sai hỏng điểm trong silic

Tải xuống file đầy đủ để xem toàn bộ nội dung

Tải đầy đủ (132 trang)

Trích đoạn nội dung luận án

Tải xuống để đọc toàn bộ

ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN VŨ BÁ DŨNG NGHIÊN CỨU KHUẾCH TÁN ĐỒNG THỜI TẠP CHẤT VÀ SAI HỎNG ĐIỂM TRONG SILIC LUẬN ÁN TIẾN SỸ VẬT LÝ HÀ NỘI - 2011 ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN VŨ BÁ DŨNG 1 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com NGHIÊN CỨU KHUẾCH TÁN ĐỒNG THỜI TẠP CHẤT VÀ SAI HỎNG ĐIỂM TRONG SILIC Chuyên ngành: Vật lý chất rắn Mã số: 62 44 07 01 LUẬN ÁN TIẾN SỸ VẬT LÝ Ngƣời hƣớng dẫn khoa học: 1. Nguyễn Ngọc Long 2. Đào Khắc An HÀ NỘI – 2011 2 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com MỤC LỤC LỜI CAM ĐOAN. 3 DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU VÀ CHỮ VIẾT TẮT.

6 DANH MỤC CÁC BẢNG SỐ LIỆU. 6 DANH MỤC CÁC HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ. MỘT SỐ VẤN ĐỀ TỔNG QUAN. Vật liệu bán dẫn silic.

Một vài tính chất cơ bản của vậtt liệu bán dẫn silic. Sai hỏng điểm trong vật liệu bán dẫn Si. Tự khuếch tán trong vật liệu bán dẫn Si. Khuếch tán tạp chất trong vật liệu bán dẫn Si.

Cơ chế khuếch tán tạp chất trong Si. Khuếch tán B trong Si. Sai hỏng điểm sinh ra do khuếch tán tạp chất trong Si. Hệ số khuếch tán phụ thuộc vào nồng độ và căng mạng.

Mô hình khuếch tán của S. Mô hình khuếch tán của N. Mô hình khuếch tán của ĐK. Những kết quả thực nghiệm về khuếch tán tạp chất và sai hỏng.

Định luật Fick và định luật Onsager. Mật độ dòng khuếch tán. Định luật Fick. Định luật lực tổng quát và định luật Onsager.

Những mâu thuẫn của định luật Fick và định luật Onsager. Khuếch tán đồng thời B và sai hỏng điểm trong Si. Mật độ dòng khuếch tán theo lý thuyết Onsager. Mật độ dòng khuếch tán đồng thời của B, I và V .31 KẾT LUẬN CHƢƠNG I .33 1 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com Chƣơng II.

SỰ TƢƠNG THÍCH GIỮA ĐỊNH LUẬT ONSAGER VÀ ĐỊNH LUẬT FICK. Dòng tuyệt đối và dòng thực. Các định luật khuếch tán tuyến tính. Định luật lực tổng quát phi tuyến.

Định luật định luật Onsager phi tuyến. Nguồn gốc chung của định luật Fick và định luật Onsager. Sự đồng nhất giữa định luật Fick và định luật Onsager.51 KẾT LUẬN CHƢƠNG II.39 Chƣơng III. HỆ PHƢƠNG TRÌNH KHUẾCH TÁN ĐỒNG THỜI B VÀ SAI HỎNG ĐIỂM TRONG Si.

Hệ phƣơng trình khuếch tán B, I và V dạng parabolic. Hệ phƣơng trình khuếch tán B, I và V. Hệ phƣơng trình khuếch tán B, I và V trong trƣờng hợp giới hạn .56 KẾT LUẬN CHƢƠNG III .56 Chƣơng IV. LỜI GIẢI SỐ HỆ PHƢƠNG TRÌNH KHUẾCH TÁN ĐỒNG THỜI B VÀ SAI HỎNG ĐIỂM TRONG Si.

Mô hình bài toán khuếch tán đồng thời B, I và V trong Si…………. Phƣơng pháp giải số hệ phƣơng trình khuếch tán B, I và V. Phƣơng pháp sai phân hữu hạn. Phƣơng pháp sai phân bốn điểm FTCS.

Phƣơng pháp sai phân ngƣợc dòng. Lời giải số hệ phƣơng trình khuếch tán đồng thời B, I và V. Chƣơng trình tính toán .75 KẾT LUẬN CHƢƠNG IV………………………………………………101 Chƣơng V. MÔ PHỎNG QUÁ TRÌNH KHUẾCH TÁN ĐỘNG CỦA B 2 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com VÀ SAI HỎNG ĐIỂM TRONG Si.

Mô hình khuếch tán đồng thời B và sai hỏng điểm trong Si. Tốc độ khuếch tán và tần số các bƣớc di chuyển của B, I và V. Chƣơng trình mô phỏng khuếch tán động của B, I và V .89 KẾT LUẬN CHƢƠNG V .94 CÁC CÔNG TRÌNH KHOA HỌC ĐÃ CÔNG BỐ. 95 TÀI LIỆU THAM KHẢO.

Chƣơng trình giải số hệ phƣơng trình khuếch tán của B, I và V. Chƣơng trình mô phỏng quá trình khuếch tán động của B, I và V. Bảng số liệu kết quả giải số hệ phƣơng trình khuếch tán đồng thời của B, I và V sau 10 phút khuếch tán ở nhiệt độ 10000C .127 3 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU VÀ CHỮ VIẾT TẮT Ký hiệu Tiếng Anh Tiếng Việt As Arsenic atom Nguyên tử arsen Ai Interstitial impurity Nguyên tử tạp chất điền kẽ As Substitutional impurity Nguyên tử tạp chất thế chỗ B Boron atom Nguyên tử bo B0 Neutral boron impurity Tạp chất B trung hòa B+ Positively charged boron impurity Tạp chất B tích điện dƣơng B- Negatively charged boron impurity Tạp chất B tích điên âm Bi Interstitial boron impurity Tạp chất B điền kẽ Bs Substitutional boron impurity Tạp chất B thế chỗ C Concentration Nồng độ CB Boron concentration Nồng độ tạp chất B CI Silicon interstitial concentration Nồng độ điền kẽ Si CV Vacancy concentration Nồng độ nút khuyết C 0B Suface conentration of B Nồng độ bề mặt của B C 0I Equilibrium concentration of silicon Nồng độ cân bằng của điền kẽ Si interstitial C 0V Equilibrium concentration of vacancy Nồng độ cân bằng của nút khuyết D diffusivity Hệ số khuếch tán DB Boron diffusivity Hệ số khuếch tán của B DI Silicon interstitial diffusivity Hệ số khuếch tán của điền kẽ Si DV Vacancy diffusivity Hệ số khuếch tán của nút khuyết Di Intrinsic diffusivity Hệ số khuếch tán nội Dx Extrinsic diffusivity Hệ số khuếch tán ngoại 4 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com EDE Emitter Dip Effect Hiệu ứng đẩy bởi Emitter f E (I) Interstitial formation energy Năng lƣợng hình thành điền kẽ Ef(V) Vacancy formation energy Năng lƣợng hình thành nút khuyết Em(I) Interstitial migration energy Năng lƣợng di chuyển điền kẽ Em(V) Vacancy migration energy Năng lƣợng di chuyển nút khuyết EEE Emitter Edge Effect Hiệu ứng bờ Emitter FTBS Forward Time Backward Space Sai phân tiến theo thời gian và lùi theo không gian FTCS Forward Time Center Space Sai phân tiến theo thời gian và trung tâm không gian fI Fractional diffusion interstitial Tỷ lệ khuếch tán điền kẽ fV Fractional diffusion vacancy Tỷ lệ khuếch tán nút khuyết G Gibbs free energy Năng lƣợng tự do Gibbs GFL General Force Law Định luật lực tổng quát Ga Gallium atom Nguyên tử gali Ge Germanium atom Nguyên tử gecmany I Silicon self-interstitial Tự điền kẽ silic I0 Neutral self-interstitial Tự điền kẽ trung hòa I+ Positively charged self-interstitial Tự điền kẽ tích điện dƣơng I++ Double dositively charged self- Tự điền kẽ tích điên dƣơng kép interstitial I- Negatively charged self-interstitial Tự điền kẽ tích điên âm J Diffusion density Mật độ dòng khuếch tán JB Diffusion density of bron Mật độ dòng khuếch tán B JI Diffusion density of interstitial Mật độ dòng khuếch tán I JV Diffusion density of vacancy Mật độ dòng khuếch tán V K Boltzmann constant Hằng số Boltzmann L Phenomenogical coefficient Hệ số hiện tƣợng luận 5 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com LBB Phenomenogical coefficient for Hệ số hiện tƣợng luận đối với B boron LII Phenomenogical coefficient for Hệ số hiện tƣợng luận đối với điền interstitial kẽ Si LVV Phenomenogical coefficient for Hệ số hiện tƣợng luận đối với nút vacancy khuyết LBI, LIB Cross-coefficient for boron and Hệ số tƣơng quan của B và I interstitial LBV, LVB Cross-coefficient for boron and Hệ số tƣơng quan của B và V vacancy LIV, LVI Cross-coefficient for vacancy and Hệ số tƣơng quan của I và V interstitial LDE Lateral Diffusion Effect Hiệu ứng khuếch tán ngang P Phosphorus atom Nguyên tử phốt pho REDE Retardation Emiter Dip Effect Hiệu ứng hút ngƣợc Emiter Sb Antimony atom Nguyên tử ăngtimon SIMS Secondery ion mass spectroscopy Phép khối phổ ion thứ cấp Si Silicon atom Nguyên tử silic T Absolute temperature Nhiệt độ tuyệt đối V Vacancy Nút khuyết V0 Neutral vacancy Nút khuyết trung hòa V+ Positively charged vacancy Nút khuyết tích điện dƣơng V- Negatively charged vacancy Nút khuyết tích điên âm V= Double negatively charged Nút khuyết tích điện âm kép vacancy DANH MỤC CÁC BẢNG SỐ LIỆU Bảng 3. Các biểu thức hệ số khuếch tán B phụ thuộc vào nồng độ.

Các trị số của điều kiện ban đầu và điều kiện biên. Kết quả giải số hệ phƣơng trình khuếch tán B, I và V. Vận tốc và tần số các bƣớc di chuyển của B và I trong Si. Tỷ lệ xác suất các bƣớc di chuyển của B và I trong Si.

107 DANH MỤC CÁC HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ Hình 1. Ô cơ sở của mạng tinh thể Si. 16 6 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail. Một cấu hình nút khuyết đơn (V) trong tinh thể Si.

Một cấu hình sai hỏng tạp chất B thế chỗ trong Si. Một số cơ chế khuếch tán chính trong vật liệu bán dẫn. Hệ số khuếch B trong Si ở các nhiệt độ và nồng độ khác nhau. Hai cơ chế kick-out trong Si.

Cơ chế Frank-Tirnbull và cơ chế phân ly. Hình ảnh sai hỏng vùng Emitter ở 1,4 μm; 1,8 μm và 2,2μm. SFs và ring - SFs do khuếch tán B trong Si. Hiệu ứng đẩy bởi Emitter.

Hiệu ứng khuếch tán ngang. Miền sai hỏng dƣới miền khuếch tán. Miền sai hỏng-miền căng dƣới miền Emitter của transistor. Dòng khuếch tán tuyệt đối xuôi chiều J1 và dòng khuếch tán tuyệt đối ngƣợc chiều J2.

Đồ thị sự biến thiên hệ số khuếch tán hiệu dụng của B phụ thuộc vào nồng độ ở 1000oC. Đồ thị sự biến thiên hệ số khuếch tán hiệu dụng của điền kẽ Si theo độ sâu ở 1000oC. Mô hình khuếch tán B và sai hỏng điểm trong Si. Sơ đồ sai phân tiến theo thời gian trung tâm theo không gian.

Sơ đồ sai phân ngƣợc dòng. Sơ đồ khối chƣơng trình tính toán. Phân bố B, I và V sau 10 phút khuếch tán ở 800oC. Phân bố B, I và V sau 5 phút khuếch tán ở 1000oC.

Phân bố B, I và V sau 10 phút khuếch tán ở 1000oC. Phân bố B, I và V sau 15 phút khuếch tán ở 1000oC. Phân bố B, I và V sau 5 phút (B1, I1, V1), 10 phút (B2, I2, V2) và 15 phút (B3, I3, V3) ở 1000oC. Phân bố tự điền kẽ I trong Si sau 10 phút khuếch tán ở 1000oC và độ sâu (0,1 μm – 1 μm).

Phân bố nút khuyết V trong Si sau 10 phút khuếch tán ở 1000oC và độ sâu (0,1 μm – 1 μm). Phân bố B và I trong Si sau 10 phút khuếch tán ở 7 TIEU LUAN MOI download : skknchat@gmail.com 1000oC và độ sâu (0,1 μm – 1 μm). Phân bố B và V trong Si sau 10 phút khuếch tán B ở 1000oC và độ sâu (0,1 μm – 1 μm). Phân bố B, I và V trong Si sau 10 phút khuếch tán B ở 1000oC và độ sâu (0,1 μm – 1 μm).

Phân bố I và V trong Si sau 10 phút khuếch tán B ở 1000oC và độ sâu (0,8 μm – 1,8 μm). Phân bố B và V trong Si sau 10 phút khuếch tán B ở 1000oC và độ sâu (1,8 μm – 3,8 μm). So sánh với kết quả của A. Plummer, sau 5 phút khuếch tán ở 1000oC.

Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ

Trích dẫn luận án này

Vũ Bá Dũng (2011). Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và [Luận án tiến sĩ, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên - Đại học Quốc gia Hà Nội]. LuanAn.net. https://luanan.net/tai-lieu-khac/silic

Câu hỏi thường gặp

Luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" nghiên cứu về vấn đề gì?

Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và các yếu tố ảnh hưởng, ứng dụng trong vật liệu bán dẫn.

Luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" được bảo vệ tại trường nào?

Luận án này được bảo vệ tại Trường Đại học Khoa học Tự nhiên - Đại học Quốc gia Hà Nội. Năm bảo vệ: 2011.

Luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" thuộc chuyên ngành gì?

Luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" thuộc chuyên ngành Vật lý chất rắn. Danh mục: Tài liệu khác.

Luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" có bao nhiêu trang?

Luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" có 132 trang. Bạn có thể xem trước một phần tài liệu ngay trên trang web trước khi tải về.

Cách tải luận án "Luận án tiến sĩ nghiên cứu khuếch tán đồng thời tạp chất và" về máy như thế nào?

Để tải luận án về máy, bạn nhấn nút "Tải xuống ngay" trên trang này, sau đó hoàn tất thanh toán phí lưu trữ. File sẽ được tải xuống ngay sau khi thanh toán thành công. Hỗ trợ qua Zalo: 0559 297 239.

Luận án liên quan

Chia sẻ tài liệu: Facebook Twitter