Luận án TS Vật lý: Dẫn nhảy bước biến đổi trong các hệ điện tử định xứ mạnh
Luận án tiến sĩ vật lý: Khám phá dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh. Phân tích định lượng, mô phỏng lý thuyết sâu sắc.
Luan An
Luận án
Số trang
171
Thời gian đọc
26 phút
Lượt xem
0
Lượt tải
0
Phí lưu trữ
50 Point
Tổng quan nhanh
- Chủ đề:
- Cơ chế Dẫn nhảy bước biến đổi: Tổng quan Vật lý
- Số trang:
- 171 trang
- Tác giả:
- Luan An
Tóm tắt nội dung luận án
I.Cơ chế Dẫn nhảy bước biến đổi Tổng quan Vật lý
Phần này giới thiệu các khái niệm cơ bản về dẫn nhảy bước biến đổi (VRH). Nó bao gồm hiện tượng định xứ điện tử trong các hệ vật liệu mất trật tự. Khung lý thuyết mô tả quá trình vận chuyển điện tử cũng được trình bày. Định luật Mott, một nguyên lý cốt lõi, được phân tích chi tiết. Sự hiện diện của các tạp chất và mất trật tự cấu trúc ảnh hưởng lớn đến chuyển động của electron. Hiểu biết các nguyên tắc cơ bản này rất quan trọng cho nghiên cứu vật lý vật chất ngưng tụ. Phân tích này cung cấp một cái nhìn tổng quan toàn diện về các cơ chế chi phối sự vận chuyển electron. Hàm sóng electron bị giới hạn không gian, ngăn chặn sự di chuyển tự do. Sự định xứ này thúc đẩy cơ chế nhảy. Độ dẫn điện phụ thuộc mạnh mẽ vào nhiệt độ và mật độ trạng thái định xứ.
1.1. Mất trật tự và định xứ điện tử
Hệ vật liệu thường chứa các sai hỏng hoặc tạp chất. Những yếu tố này gây ra mất trật tự. Mất trật tự làm cho trạng thái điện tử bị định xứ. Các electron không thể di chuyển tự do trong mạng tinh thể. Thay vào đó, chúng bị mắc kẹt tại các vị trí nhất định. Điều này dẫn đến sự xuất hiện của các trạng thái năng lượng gián đoạn. Hiện tượng định xứ điện tử là nền tảng cho dẫn nhảy. Các trạng thái này là nguồn gốc của các bước nhảy. Định xứ làm tăng điện trở suất của vật liệu.
1.2. Mạng Miller Abrahams và Độ dẫn điện
Mô hình Miller-Abrahams mô tả dẫn nhảy. Nó sử dụng một lưới trở ngẫu nhiên. Các nút mạng đại diện cho các trạng thái định xứ. Các điện trở nối giữa các nút mô tả xác suất nhảy. Xác suất này phụ thuộc vào khoảng cách không gian và chênh lệch năng lượng. Độ dẫn điện của hệ được tính toán thông qua lý thuyết thấm. Lý thuyết thấm xác định đường dẫn hiệu quả nhất. Đường dẫn này cho phép dòng điện chảy qua mạng. Mô hình này rất quan trọng để hiểu cơ chế dẫn nhảy. Nó cung cấp một khuôn khổ định lượng.
1.3. Định luật Mott Dẫn nhảy bước biến đổi
Định luật Mott mô tả dẫn nhảy bước biến đổi (VRH). Định luật này áp dụng ở nhiệt độ thấp. Khi nhiệt độ giảm, các electron nhảy giữa các trạng thái. Chúng chọn những trạng thái xa hơn. Điều này giúp tối ưu hóa năng lượng kích hoạt. Độ dẫn điện phụ thuộc hàm mũ vào nhiệt độ. Mật độ trạng thái lân cận mức Fermi đóng vai trò quan trọng. Định luật Mott dự đoán sự phụ thuộc nhiệt độ cụ thể. Nó là một khái niệm trung tâm trong vật lý chất rắn. Các nghiên cứu thực nghiệm thường xác nhận định luật này.
II.Tương tác Electron Electron và Độ dẫn nhảy Biến đổi
Phần này tập trung vào vai trò của tương tác Coulomb giữa các electron. Các tương tác này ảnh hưởng đáng kể đến mật độ trạng thái (DOS) và cơ chế dẫn nhảy bước biến đổi (VRH). Sự hình thành khe Coulomb gần mức Fermi là một hệ quả quan trọng. Khe Coulomb làm giảm số lượng trạng thái sẵn có cho electron nhảy. Điều này ảnh hưởng trực tiếp đến độ dẫn điện. Nghiên cứu này phân tích cách các hiệu ứng chắn và nhiệt độ ảnh hưởng đến động học của VRH. Các hiệu ứng chắn làm giảm cường độ tương tác Coulomb. Sự chuyển đổi giữa các định luật dẫn nhảy khác nhau cũng được xem xét. Kết quả cung cấp hiểu biết sâu sắc về các hiện tượng vật lý.
2.1. Mật độ trạng thái và Khe Coulomb
Tương tác electron-electron tạo ra khe Coulomb. Khe này xuất hiện trong mật độ trạng thái định xứ. Khe Coulomb là vùng năng lượng không có trạng thái. Vùng này nằm gần mức Fermi. Sự hình thành khe là do đẩy Coulomb. Điện tử cần năng lượng lớn hơn để chiếm cùng một trạng thái. Mô phỏng máy tính và khảo sát định tính xác nhận sự tồn tại của khe. Quan sát thực nghiệm cũng chứng minh điều này. Khe Coulomb làm thay đổi sự phụ thuộc nhiệt độ của độ dẫn điện.
2.2. Các hiệu ứng chắn và Dẫn nhảy VRH
Các hiệu ứng chắn làm giảm cường độ tương tác Coulomb. Trong vật liệu ba chiều (3D), chắn Yukawa là một ví dụ. Trong vật liệu hai chiều (2D), cổng kim loại có thể gây ra chắn. Sự có mặt của các hạt mang điện khác làm giảm lực Coulomb. Điều này ảnh hưởng đến kích thước và hình dạng của khe Coulomb. Các hiệu ứng chắn thay đổi động học của dẫn nhảy VRH. Độ dẫn điện sẽ thể hiện một sự phụ thuộc khác vào nhiệt độ. Nghiên cứu này phân tích cụ thể các trường hợp 2D và 3D.
2.3. Chuyển Mott Efros Shklovskii
Ở nhiệt độ rất thấp, định luật Efros-Shklovskii (ES) chi phối. Định luật này tính đến khe Coulomb. Sự phụ thuộc nhiệt độ trở nên mạnh hơn so với định luật Mott. Có sự chuyển đổi giữa chế độ Mott và chế độ ES. Sự chuyển đổi này xảy ra khi nhiệt độ giảm dần. Quan sát thực nghiệm xác nhận sự chuyển đổi này. Các biểu thức tổng quát cho sự phụ thuộc nhiệt độ được xây dựng. Nghiên cứu áp dụng cho vật liệu vô định hình. Mô hình mật độ trạng thái cho vật liệu này được phát triển. Tính toán độ dẫn nhảy VRH cho vật liệu vô định hình.
III.Suất Nhiệt điện động VRH Ảnh hưởng Tương tác Coulomb
Suất nhiệt điện động là một đại lượng quan trọng. Nó cung cấp thông tin về tính chất điện tử của vật liệu. Đặc biệt, nó nhạy cảm với sự đối xứng của mật độ trạng thái. Phần này khảo sát suất nhiệt điện động (S) trong chế độ dẫn nhảy bước biến đổi (VRH). Tương tác Coulomb có ảnh hưởng sâu sắc đến S. Nghiên cứu sử dụng gần đúng lý thuyết thấm. Nó phát triển các biểu thức giải tích tổng quát. Các biểu thức này áp dụng cho các hệ hai chiều và ba chiều. Sự phân tích này làm rõ cơ chế vận chuyển nhiệt độ. Các hiệu ứng electron-electron làm thay đổi đáng kể S. Hiểu biết này là cơ sở để thiết kế vật liệu nhiệt điện.
3.1. Suất nhiệt điện động VRH trong Thuyết thấm
Suất nhiệt điện động (S) trong chế độ VRH được tính toán. Nghiên cứu sử dụng gần đúng lý thuyết thấm. Thuyết thấm giúp xác định con đường nhiệt điện hiệu quả. Con đường này được hình thành bởi các bước nhảy của electron. Điện thế nhiệt động được phân tích. Điện thế này kết nối chênh lệch nhiệt độ với dòng điện. Phân tích này là một phương pháp mạnh mẽ. Nó đánh giá sự đóng góp của các bước nhảy. Các bước nhảy này có năng lượng và khoảng cách khác nhau.
3.2. Biểu thức giải tích tổng quát cho Suất nhiệt
Các biểu thức giải tích tổng quát được phát triển. Những biểu thức này mô tả suất nhiệt điện động VRH. Chúng áp dụng cho cả hệ hai chiều (2D) và ba chiều (3D). Các biểu thức này tích hợp ảnh hưởng của tương tác Coulomb. Mật độ trạng thái lân cận mức Fermi cũng được xem xét. Tính đối xứng của mật độ trạng thái quanh mức Fermi là quan trọng. Các công thức mới giúp dự đoán hành vi nhiệt điện. Chúng cũng so sánh với dữ liệu thực nghiệm.
3.3. Vật liệu vô định hình và Suất nhiệt điện
Nghiên cứu mở rộng ứng dụng cho vật liệu vô định hình. Một mô hình cụ thể được phát triển cho DOS của vật liệu này. Mô hình này cho phép tính toán suất nhiệt điện động VRH. Các đặc trưng riêng của cấu trúc vô định hình được tính đến. Điều này dẫn đến sự hiểu biết sâu sắc hơn. Đặc tính nhiệt điện của vật liệu vô định hình được làm rõ. Các thảo luận chi tiết về kết quả được trình bày. Ứng dụng tiềm năng trong công nghệ năng lượng được đề xuất.
IV.Dẫn nhảy Bước biến đổi phụ thuộc Tần số trong hệ
Phần này khám phá độ dẫn điện xoay chiều (AC) của hệ. Nó tập trung vào chế độ dẫn nhảy bước biến đổi (VRH). Không giống như dòng điện một chiều (DC), độ dẫn AC phụ thuộc vào tần số. Sự phụ thuộc này cung cấp thông tin bổ sung. Nó giúp hiểu động học của electron nhảy. Nghiên cứu áp dụng phép gần đúng cặp. Phép gần đúng này đơn giản hóa việc tính toán. Nó cho phép mô tả các tương tác giữa các cặp trạng thái. Các biểu thức tổng quát cho độ dẫn AC VRH được xây dựng. Các kết quả số và thảo luận làm rõ hành vi vật lý. Việc hiểu rõ độ dẫn AC là quan trọng. Nó có ứng dụng trong việc thiết kế các thiết bị điện tử. Đặc biệt là các thiết bị hoạt động ở tần số cao.
4.1. Phép gần đúng cặp và độ dẫn AC VRH
Phép gần đúng cặp được sử dụng để tính độ dẫn AC. Phương pháp này xem xét các bước nhảy electron giữa hai trạng thái. Các trạng thái này tạo thành một cặp. Độ dẫn AC được xác định bởi sự đóng góp của nhiều cặp. Mỗi cặp có một thời gian thư giãn đặc trưng. Thời gian này liên quan đến tần số. Năng lượng và khoảng cách giữa các trạng thái ảnh hưởng đến thời gian thư giãn. Phép gần đúng này đơn giản hóa bài toán phức tạp. Nó vẫn giữ được các đặc trưng vật lý chính.
4.2. Biểu thức tổng quát độ dẫn điện AC
Các biểu thức tổng quát cho độ dẫn điện AC VRH được thiết lập. Chúng áp dụng cho cả hệ ba chiều (3D) và hai chiều (2D). Các biểu thức này tính đến tần số kích thích. Chúng cũng xem xét các thông số vật lý của hệ. Ví dụ như mật độ trạng thái và bán kính định xứ. Độ dẫn AC thường tăng theo tần số ở các tần số thấp. Sau đó, nó có thể bão hòa ở tần số cao hơn. Sự phụ thuộc tần số này là một dấu hiệu đặc trưng. Nó phân biệt dẫn nhảy với các cơ chế dẫn điện khác.
4.3. Kết quả số và thảo luận ứng dụng
Nghiên cứu trình bày các kết quả tính toán số. Các kết quả này minh họa sự phụ thuộc tần số của độ dẫn AC VRH. Các thảo luận chi tiết được đưa ra. Chúng so sánh kết quả với dữ liệu thực nghiệm. Các yếu tố như nhiệt độ và cường độ tương tác ảnh hưởng đến độ dẫn AC. Việc hiểu rõ những yếu tố này là quan trọng. Nó giúp tối ưu hóa hiệu suất của vật liệu. Ứng dụng tiềm năng trong cảm biến và thiết bị truyền thông được xem xét.
V.VRH trong Hệ Vật liệu Thấp chiều Ứng dụng Vật lý
Các hệ thấp chiều, như một chiều (1D) và hai chiều (2D), đang thu hút nhiều sự chú ý. Chúng có những tính chất điện tử độc đáo. Phần này mở rộng nghiên cứu về dẫn nhảy bước biến đổi (VRH) sang các hệ này. Cấu trúc không gian hạn chế ảnh hưởng mạnh mẽ đến cơ chế dẫn nhảy. Mô hình và phương pháp tính toán được phát triển cụ thể cho các hệ thấp chiều. Đặc biệt, nghiên cứu này xem xét trường hợp nhiệt độ vô hạn. Nó cũng khám phá VRH trong hệ một chiều hữu hạn. Ngoài ra, "chuyển đổi chiều" trong hệ hai chiều bất đẳng hướng được phân tích. Các kết quả này có ý nghĩa quan trọng. Chúng đóng góp vào việc hiểu và ứng dụng vật liệu nano.
5.1. Mô hình tính toán cho hệ thấp chiều
Các mô hình vật lý được xây dựng. Chúng phục vụ việc phân tích VRH trong hệ thấp chiều. Các phương pháp tính toán được điều chỉnh cho các ràng buộc chiều. Trong hệ thấp chiều, sự định xứ có thể mạnh hơn. Khoảng cách nhảy tối ưu cũng thay đổi. Mô hình tính đến các đặc điểm hình học. Các đặc điểm này bao gồm chiều dài và chiều rộng của cấu trúc. Phân tích này cung cấp cơ sở lý thuyết. Nó giúp dự đoán hành vi dẫn điện.
5.2. VRH trong hệ một chiều hữu hạn
Nghiên cứu đặc biệt tập trung vào hệ một chiều (1D) hữu hạn. Trong hệ 1D, định xứ mạnh mẽ hơn. Các bước nhảy electron bị giới hạn dọc theo một đường thẳng. Bài toán r-thấm được giải quyết trong trường hợp nhiệt độ vô hạn. Các tính toán và kết quả số được trình bày. Chúng cho thấy sự phụ thuộc đặc biệt của VRH. Phụ thuộc này vào kích thước và nồng độ tạp chất. Các hệ 1D hữu hạn có ứng dụng trong nanowire và ống nano.
5.3. VRH trong hệ hai chiều bất đẳng hướng chuyển đổi chiều
Nghiên cứu cũng xem xét VRH trong hệ hai chiều (2D) bất đẳng hướng. Bất đẳng hướng nghĩa là các tính chất khác nhau theo các hướng khác nhau. Điều này có thể dẫn đến hiện tượng "chuyển đổi chiều". Chuyển đổi chiều nghĩa là hành vi dẫn nhảy thay đổi. Nó có thể giống như 1D hoặc 3D tùy thuộc vào điều kiện. Các yếu tố hình học và điện trường ảnh hưởng đến chuyển đổi này. Phân tích này mở ra hướng nghiên cứu mới. Nó hướng tới các vật liệu anisotropic.
Tải xuống file đầy đủ để xem toàn bộ nội dung
Tải đầy đủ (171 trang)Trích đoạn nội dung luận án
Tải xuống để đọc toàn bộM Ụ C LỤC Trang MỤC LỤC Ì ; D A N H M Ụ C CÁC CHỮVIẾT TẮT 4 D A N H M Ụ C CÁC BẢNG 4 D A N H M Ụ C CÁC HÌNH VẼ, Đ ồ THỊ 5 M Ớ ĐẦU 8 Chương Ì T Ổ N G Q U A N 14 L I Mất trật tự và định xứ 14 1.2 Dẫn điện trong các hệ electron định xứ mạnh: dẫn nhảy 18 1.3 Lưới trớ ng ẫu nhiên Miller - Abrahams 22 1.4 Đô dẫn điện của các hệ rất không đổng nhất trong gần đúng lý thuyết thấm 7g 1.1 Bài to án mạng 28 1.2 Bài to án nút ngẫu nhiên 30 1.3 Độ dẫn điện của môi trường rất không đổng nhất 32 1.5 Dẫn nhảy bước nhảy biến đối: Định luật Mott 34 Chương 2 Ả N H HƯỞNG CỦA TƯƠNG TÁC E L E C T R O N - E L E C T R O N LÊN M Ậ T ĐỘ TRẠNG THÁI VÀ sự P H Ụ THUÔC N H I Ệ T Đ ộ CỦA ĐỘ DẪN NHẢY BƯỚC BIẾN Đ ổ i 39 2.1 Mật độ trạng thái định xứ lân cận mức Fermi 39 2.1 Khảo sát đinh tính 39 2.2 Phương trình tự hoa hơp: Khe Coulomb 42 2.3 Mô phỏng khe Coulomb trên máy tính điện tử 44 2.4 Quan sát thực nghiệm 46 2.2 Các hiệu ứng chấn 48 2.1 Trườn g hợp 3D: chắn Yukawa 48 2.2 Trường hợp 2D: chắn d o cổng kim loại 49 Ì 2.3 Sự phụ thuộc nhiệt độ của dẫn nháy bước biến đổi 52 2.1 Định luật Efros-Shklovskii 52 2.2 Qu an sát thực nghiệm 53 2.4 Chuyển Mott - Efros-Shklovskii 54 2. Ì Quan sát thực nghiệm 54 2.2 Biểu thức tổng quát cho sự phụ thu ộc nhiệt độ của V R H .5 Dẫn nhảy bước biến đối trong vật liệu vô định hình 57 2.1 Mô hình mật độ trạng thái cho vật liệu vô định hình 57 2.2 Tính độ dẫn nhảy V R H cho vật liệu vô định hình .3 Thảo luận kết qua 59 Chương 3 CÁC KIỆU ỨNG TƯƠNG TÁC COULOMB TRONG SUẤT NHIỆT ĐIỆN ĐỘNG ỏ MIỀN DẪiN NHẢY BƯỚC BIẾN ĐỔI 62 3.1 Su ấ t nhiệt điện động V R H trong gần đúna lý thuyết thấm 62 3.2 Biếu thức giải tích tons quát 65 3.1 Hệ hai chiều (2D) 65 3.2 Hệ ba chiều (3D) 68 3.3 Suất nhiệt điện động V R H cho vật liệu vò định hình 74 3.1 Biếu thức suất nhiệt điện động VRH cho vật liệu vò định hình .2 Tháo luận 78 Chuông 4 DẨ N NHẢY BƯỚC BIÊN Đ ổ i P H Ụ T H U Ộ C T Ầ N s ố 81 4. Ì Phép gần đúng cặp 81 4.2 Biểu thức tổng quát của đô dẫn điện ác V R H 85 4.1 Hệ ba chiều (3D) 85 4.2 Hệ hai chiều (2D) 87 4.3 Kết quả số và thảo luận 89 Chương 5 DẪN NHẢY BƯỚC BIẾN Đ ổ i TRONG HỆ THẤP CHIỂU 9 4 5.2 Mô hình và phương pháp tính 96 5.3 Trường hợp nhiệt độ vô hạn: bài toán r-thấm 99 5.1 Tính toán và kết qua số 100 5.4 V R H trong hệ một chiều hữu hạn in 5.5 V R H trong hệ hai chiều bất đẳng hướng: "chuyển đổi chiều ?" 116 KẾT L U Ậ N 124 D A N H M Ụ C CÁC CÔNG TRÌNH ĐÃ CÔNG B ố CỦA TÁC GIẢ LIÊN Q U A N ĐẾN LUẬN ÁN 125 TÀI LIỆU T H A M KHẢO 126 PHỤ LỤC Ì 137 PHỤ LỰC 2 148 PHỤ LỤC 3 151 PHỤ LỤC 4 156 PHỤ LỤC 5 161 PHỤ LỤC 6 163 3 D A N H M Ụ C CÁC C H Ữ V l Ế T TẮT H C (Hopping Conduction): dẫn nháy. V R H (Variable Range Hopping): (dẫn nhảy) bước nh ay biến đổi.
DOS (Density of States): mật độ trạng thái. ES: Efros-Shk lovsk ii. SCE (Self-Consistent Equation): phương trình tự hoa hợp. de (directed current): dòng điện một ch iều.
ác (alternative current): dòng điện xoay ch iều. ID, 2D, 3D (one-, two-, th ree-Dimensional): (h ệ) một, hai, ba ch iều. Q1D (Quasi-one- Dimensional): hệ chuẩn một ch iều. TP (Transverse Percolation): thấm ngang.
L R (Longitudinal Resistance): điện trơ doc. TR (Transverse Resistance): điện trớ ngang. MTĐT: máv tính điện tử. D A N H M Ụ C CÁC B Ả N G Bàng L I : Giá trị ngưỡng thấm của một số mạng cơ bản Bâng 5.1: Bán kính thám trong hệ vô hạn với nồng độ tap khác nhau D A N H M Ụ C CÁC HÌNH V Ẽ , Đ ồT H Ị Hình L I : Mô hình Mon.
Miền các trạng thái định xứ được gạch chéo, các ngưỡng linh độn% E m và E .2: Trạng thái truy ền qua (a) và trạng thái định xứ(b) 16 H ì n h 1.3: Sự phụ thuộc của di ện trở suất vào nhi ệt độ của bán dẩn pha tạp nhẹ 18 H ì n h 1.4: Sự phụ thuộc của điện trở suất vào nghịch đảo của nhiệt độ đối với Ge loại p theo số li ệu thực nghi ệm của Fritzsche và Cuevas [32] 20 Hình 1.5: Các trạng thái định xứ lân cận mức Fermi (a) và mật độ trạng thủi (b) 21 Hình 1.6: Lưới trở ngẫu nhi ên Mi ller - Abrahams 27 Hình 1.7: Sự phụ thuộc của độ dẫn điện vào giá trị cực đại của sô mũ rj .8: Dải các trạng thái có năng lượng cách mức Fermi một lượng nhỏ hơn e. Bên phải 0 vè mật độ trạng thái g(s), vùng các trạng thái bị chiếm dược gạch chéo 35 Hình 2.1: Các mức năng lượng trong dải năng lượng gần mức Fermi 40 Hình 2.2: Kết quả mô phỏng mật độ trạng thái trong miên khe Coulomb cho trường hợp d=3i K = 0,5 và N = 1600 (đườìĩg liền nét) [24]; đường đìa nét là kết quả của Baranovskii et ai. Năng lượng tính trong đơn vị (e N* /K), còn mật độ trạng thái trong đơn vị ị ĩde N 2 2 ) 45 Hình 2.3: Khe Coulomb trong mẫu tinh thế Si:B quan sái được trực tiếp nhờ kỹ thuật đỡ chui ngầm [47] 47 H ì n h 2.4: Sự phụ thuộc năng lượng của mật độ trạng thái: dường li ên nét là lời gi ải số của phương trình tự hoa hợp; đường nét đứt là gần đúng bậc không (2.16); các chấm là khe Coulomb 3D (2.5), các điểm tròn là kết quả mô phỏng [77] 48 Hình 2. (b) - Điện tích ảnh ì' của ỉ do hưởng ứng diện trên cổng ki m loại .6: Lời giải số phương trình tự hoa hợp (đường liền nét) vù kết qua mô phỏng (x) mật độ trạng thải G(E) với thế chắn (2.
Đường nét đứt tương {eng với gân đúng bậc không (2.7: Kết quả giải số phương trình (2.39) cho một số giá trị điển hình của tham SỐS, lương ứng các hệ vô định hình phổ biến 60 Hình 3.1: Sự phụ thuộc của suất nhiệt diện độiĩíị VRH vào nhiệt độ vẽ cùng với các giới hạn (3.2: Sự phụ thuộc suất nhiệt điện động VRH vào nhiệt độ ở vật liệu vô định hĩnh vẽcùnq các giới hạn (3. Hình vẽ lồng mô tá chuyển Mo n - ES trong độ dẩn. Nhiệt độ được tính trong dơn vị E ik 0 B 79 Hình 4.1: Đồ thị sự phụ thuộc của Sj = d{ltíơj)/d(ìncừ) vào ln\ỵ /ỡ}) ph cho hệ hai chiêu (ả = 2) và ba chiêu (ả = 3). Tần số V - lo Hz.
Tần số điện 13 trường ngoài từ 10'V/z đến ì0 Hz. 9 Tham sô Ả" = le /\KcE ) = 60 cho cả hệ 2 tỊ hai chiêu và ba chiều. Đường liền nét vẽ theo các biểu thức (4. Đường các gạch đứt theo công thức Austin-Mo tí (4.
Đường gạch-chấm theo các biểu thức (4.24) của ES 90 Hình 4.2: Sự phụ thuộc vảo nhiệt độ của độ dẫn điện ác. Đường liên nét vẽ theo (4. đường nét đứt - theo công thức Austin-Man (4.1: Mô hình: các dây dan song so ng liên kết yếu với nhau qua các tâm tạp phân bố ngẫu nhiên tro ng kho ảng không gian giữa các dây 97 Hình 5.2: Các giá trị mô phỏng -ìnổR' (L) c và - InỔR[-{ L) vẽ theo l u i cho trường hợp /7 = 0.1 và các giá trị s = 0.4 {từ trên xuống) 102 Hình 5.3: Hiệu ứng kích thước hữu hạn của các bán kính thấm: đụi lượng được ve phụ thuộc vào c { V ụ m đối với trường hợp p = OA vá các "lú trị s khác nhau: s = 0.4: Sự phụ thuộc của \ŨM (L) {Ỉ) (•) v à lnJt (L) {L) (A) vào lũi cho trường họp p = 0. Ì và các giá trị s = 0.
Hệ số góc của các đường thắng chính là chiều fractal D 105 Hình 5.5: Ví dụ về đám thấm tới hạn cho các mẫu với L = 400 và p = ọ.6: Sự phụ thuộc vào kích thước của mật độ tới hạn S (L) cho hệ hữu C hạn ứng vói một số giá trị của p (từ trên xuống): 0.7: Dày hữu hạn một chiều: < 7} >=< ỉn(p/p ) c Q > phụ thuộc ĩ' v ới một số giá trị (L, Ẹ): (64000, 20); (16000, 20); (4000, 20); (Ỉ000, 20); và (1000, 50) ị từ trên xuống). Đường thẳng liền nét ứng với định luật í ' 1 2 (cô ng thức 5. Đườnq nét đứt nối các điểm mô phỏng nằm ngoài miền ĩ' 112 .8: Dây hữu hạn một chiều: < TJ >=< lũ(p/p ) C 0 > dược về theo w2 [ln(2L/£)] ở nhiệt độ ì = 0. Các điểm mô phóng với các mẩu có L = 1000, 2000, 4000, 8000, 16000, 32000 và 64000 với ặ = 20 (kí hiệu bởi •) và £ = 5 0 (kí hiệu bói A) ^ Hình 5.9: Sự phụ thuộc vảo lrư của đại lượng In < /7" > (kí hiệu bởi • vù X) và Ịn< 77^ > (kí hiệu bới 0 và A) cho mẩu L = 100 nhưng với mật độ tạp s khác nhau: s = OA (hỉnh 5.10: Kết quả cho mẫu L = 1000, ã = lo, với nồng độ tạp s khác nhau: À- = .11: Tỷ sô TJc /ĩJc phụ thuộc vào Ư cho các mẫu có ả = 10 và với s khác nhau, s = 0.4 (từtrên xuống) 7 MỞ ĐẦU 1) Lý do chọn đề tài: Dẫn nhảy (hopping conduction) là cơ chế dẫn chủ đạo ở nhiệt độ thấp trong các hệ mất trật tự với các trạng thái electron định xứ mạnh.
về mặt lý thuyết trong giai đoạn đáu nghiên cứu dẫn nhảy người ta chua chú ý đến tương tác electron - electron giữa các trạng thái định xứ. Nhưng thực nghiệm đã khẳng định rằng tương tác electron - electron dẫn tới nhiều hiệu ứng vật lý quan trọng, nhát là ở nhiệt độ thấp. V a i trò của tương tác electron - electron là vấn đề hav nhất và cũng là khó nhất trong lý thuyết cá c hệ má t trật tự.
Nội dung được bảo vệ bản quyền — Tải xuống đầy đủ
Trích dẫn luận án này
Dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh (n.d.) [Luận án tiến sĩ]. LuanAn.net. https://luanan.net/tai-lieu-khac/luan-an-tien-si-vat-ly-dan-nhay-buoc-bien-doi-trong-cac-he-dien-tu-dinh-xu-manh
Câu hỏi thường gặp
Luận án "Dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh" nghiên cứu về vấn đề gì?
Luận án tiến sĩ vật lý: Khám phá dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh. Phân tích định lượng, mô phỏng lý thuyết sâu sắc.
Luận án "Dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh" có bao nhiêu trang?
Luận án "Dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh" có 171 trang. Bạn có thể xem trước một phần tài liệu ngay trên trang web trước khi tải về.
Cách tải luận án "Dẫn nhảy bước biến đổi trong hệ điện tử định xứ mạnh" về máy như thế nào?
Để tải luận án về máy, bạn nhấn nút "Tải xuống ngay" trên trang này, sau đó hoàn tất thanh toán phí lưu trữ. File sẽ được tải xuống ngay sau khi thanh toán thành công. Hỗ trợ qua Zalo: 0559 297 239.